高低溫低氣壓試驗(yàn)箱用途:
國(guó)防工業(yè),航天工業(yè)自動(dòng)化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下,模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn),并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。
一、特點(diǎn):
1. 平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓力,并采用智能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進(jìn)行溫
度的顯示與控制設(shè)定,故能長(zhǎng)期穩(wěn)定使用.
2. 全新*的造型設(shè)計(jì),外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取先進(jìn)技術(shù)之精華設(shè)計(jì)制造.
3. 采用全毛細(xì)管,自動(dòng)負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù),較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低溫自由轉(zhuǎn)換、設(shè)置、顯示更加精確,升降
溫速度快速、平穩(wěn)、均勻,為使用者節(jié)約寶貴時(shí)間.
二、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱性能:
1. 溫度范圍: -70℃/-50℃/-40℃/-20℃/0~ 150℃
2. 控制穩(wěn)定度 : ±0.5℃
3. 分布均勻度 :±1.5℃
4. 正常升溫時(shí)間 :20℃~ 150℃小于40分鐘非線性空載。
5. 正常降溫時(shí)間: 20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.
6. 溫度波動(dòng)度: ±0.5℃.
7. 溫度均勻度: ±1.5℃.
8. 氣壓范圍:常壓(1.01325×105 Pa)~0.5kPa
u 壓力偏差:當(dāng)常壓~壓力≥40kPa時(shí),誤差 ≤±2.0kPa;
u 當(dāng) 2kPa≤壓力<40kPa時(shí),誤差≤±5%;
u 當(dāng)壓力≤2kPa~0.5kPa時(shí),誤差 ≤±0.1kPa;
u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min(常溫、箱內(nèi)干燥)
u 壓力恢復(fù)速率: ≤10kpa/min;
9. 測(cè)時(shí)間設(shè)置:0~99.59 Hr.
三、結(jié)構(gòu)
1. 圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn), 可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì);
2. 圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),精密設(shè)計(jì),氣密性良好;
3. 自動(dòng)門禁,圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設(shè)
計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù);
4.箱內(nèi)壓力愈小時(shí),packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長(zhǎng)packing壽命;
5. 實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純
凈度;
6. 臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。
7. 箱體材質(zhì):
1) 外箱材質(zhì): SUS304高級(jí)不銹鋼板或一級(jí)冷軋板粉體烤漆.
2) 內(nèi)箱材質(zhì): SUS304高級(jí)不銹鋼板.
3) 保溫材質(zhì): 高密度聚氨酯.
四、選型及工作尺寸:
ZT-CTH-80Y W寬40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120Y W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150Y W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225Y W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306Y W寬60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408Y W寬60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800Y W寬100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000Y W寬100XH高100XD深100cm
五、設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1. GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
2. GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件.
3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則》.
4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》 .
5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》 .
6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》 .
7. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗(yàn).
8. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.