CMI760 PCB銅厚測(cè)試儀

牛津儀器測(cè)厚儀器CMI760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
同時(shí)CMI760具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。

技術(shù)參數(shù)

SRP-4面銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
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銅厚測(cè)量范圍：
化學(xué)銅：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）
線形銅可測(cè)試線寬范圍：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）
準(zhǔn)確度：±1% （±0.1 μm）參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
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可測(cè)試zui小孔直徑：35 mils （899 μm）
測(cè)量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils （2 – 102 μm）
電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定
準(zhǔn)確度：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）
精確度：1.2 mil（30μm）時(shí)，達(dá)到1.0% （實(shí)驗(yàn)室情況下）
分辨率：0.01 mils （0.1μm）

TRP-M（微孔）探頭測(cè)試技術(shù)參數(shù)：
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zui小可測(cè)試孔直徑范圍：10 – 40 mils （254 – 1016 μm）
孔內(nèi)銅厚測(cè)試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
zui大可測(cè)試板厚：175mil （4445 μm）
zui小可測(cè)試板厚：板厚的zui小值必須比所對(duì)應(yīng)測(cè)試線路板的zui小孔孔徑值高3mils（76.2μm）
準(zhǔn)確度（對(duì)比金相檢測(cè)法）：±0.01 mil （0.25 μm） < 1 mil （25 μm）
±10%≥1mil（25 μm）
精確度：不建議對(duì)同一孔進(jìn)行多次測(cè)試
分辨率：0.01 mil（0.1 μm）