OmniEvo光譜儀是卓立漢光推出的將自有的“譜 王”系列(Omni-λ180i)影像校正光柵光譜儀與英國(guó) Andor公司的iVac制冷型CCD進(jìn)行整合的新一代高性能光譜 儀產(chǎn)品,充分發(fā)揮了“譜王”系列產(chǎn)品*的光學(xué)分光性 能以及iVac制冷型CCD優(yōu)良的弱光探測(cè)性能,具有*的 性價(jià)比,是進(jìn)行熒光、拉曼光譜實(shí)驗(yàn)的*選擇之一。 |
成熟的光學(xué)設(shè)計(jì)能力
OmniEvo高性能光譜儀的光學(xué)設(shè)計(jì),均采用經(jīng)典的C-T結(jié)構(gòu),并結(jié)合公司多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)加以改進(jìn),在光學(xué)分辨率、通光效率和雜散光抑制等各項(xiàng)關(guān)鍵指標(biāo)上達(dá)到*的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-λ180i型影像校正光譜儀,更是國(guó)內(nèi)運(yùn)用影像校正設(shè)計(jì)和調(diào)校技術(shù)的光柵光譜儀,其性能達(dá)到了*水平。
全進(jìn)口光柵
OmniEvo光譜儀*采用進(jìn)口光柵(Newport公司生產(chǎn)),高質(zhì)量的光柵確保了儀器的光譜性能指標(biāo)。
高靈敏的弱光探測(cè)能力 OmniEvo高性能光譜儀選用了Andor公司的科研級(jí)、制冷型CCD作為光譜探測(cè)器件,在400-1000nm范圍內(nèi)進(jìn)行了響應(yīng)度優(yōu)化,zui高的量子效率達(dá)到60%;芯片的制冷溫度達(dá)到了-60℃,使得其讀出噪聲僅為6.2e/count,因而能夠滿足大部分的弱光光譜探測(cè)應(yīng)用。另有制冷溫度更低至-100℃的背感光CCD可選,噪聲更低,峰值量子效率高達(dá)80%以上;還提供適用于900-1700nm范圍內(nèi)使用的制冷型線陣InGaAs探測(cè)器,可用于近紅外波段的光譜信號(hào)探測(cè)。 |
靈活的光輸入結(jié)構(gòu)選擇
OmniEvo高性能光譜儀采用的是標(biāo)準(zhǔn)的狹縫入口,開口寬度可在0.01-3mm之間靈活自由選擇;通過(guò)可以選配光纖作為光輸入附件,既可用于單點(diǎn)測(cè)量,也可以選擇多通道光纖用于多點(diǎn)同時(shí)測(cè)量。