64路數(shù)字集成電路測(cè)試功能;64路模擬測(cè)試通道；自動(dòng)偵測(cè)整版邏輯電平零界值.整版測(cè)試功能.
具有獨(dú)立的5V邏輯電源輸出, 可由系統(tǒng)自動(dòng)控制.圖形化元件庫(kù)編輯軟件,快速擴(kuò)充元件庫(kù),矩陣測(cè)試.自動(dòng)偵測(cè)整版邏輯電平零界值. 記錄集成電路輸出管腳的電壓狀態(tài)，溫漂拐點(diǎn)系數(shù),狀態(tài)連接測(cè)試.測(cè)試夾自動(dòng)定位.
增強(qiáng)型產(chǎn)品abi-6500:整版測(cè)試輸入信號(hào)：- 10V ~ +10V，學(xué)習(xí)對(duì)比整版輸出信號(hào),判定整版的
英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀 產(chǎn)品突出特征：
1）產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2）64路數(shù)字集成電路測(cè)試，64路V-I曲線測(cè)試，1路v-i探棒測(cè)試
3）同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試，連接狀態(tài)測(cè)試，管管腳電壓測(cè)試
4）測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬(wàn)種元器件，可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù)，可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)
5）整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)型號(hào)及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫(kù)，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
6）短路追蹤可以快速找到短路點(diǎn)
7）V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定，方便找出不穩(wěn)定器件
8）V-I曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進(jìn)調(diào)整，可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào)，掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。
8）邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件
9）邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
10）配有離線測(cè)試盒，快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能*一至。
12）系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充，直至256通道
產(chǎn)品介紹及特點(diǎn)：
1）數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
2）模擬測(cè)試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
3）隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等），可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
4）快速掌握被測(cè)元件的多種信息,針對(duì)一個(gè)器件同時(shí)完成多種測(cè)試:數(shù)字ic功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,
5）能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；上萬(wàn)種測(cè)試元件庫(kù)，元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6）邏輯電平閾值自定義。
7）邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,以確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
8）輸入輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。
9）IC型號(hào)識(shí)別：針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
10）讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼
11）V-I曲線模擬特征分析測(cè)試:V-I曲線測(cè)試通過(guò)比較好和壞電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障.可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn).V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進(jìn)行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試,V-I曲線測(cè)試無(wú)需給電路板加電,測(cè)試安全。
12）5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
13）V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)數(shù)位元件直接進(jìn)行測(cè)試,具有64組測(cè)量通道并可以擴(kuò)充到256組通道,測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.
14）圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯，方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)。
15）電路板整板測(cè)試，通過(guò)圖像化測(cè)試庫(kù)編輯器，測(cè)試者可以根據(jù)電路板的原理圖，將電路板的輸入輸出的時(shí)序進(jìn)行圖形化的測(cè)試庫(kù)編譯，自定義輸入通道的測(cè)試激勵(lì)信號(hào)，根據(jù)電路板的原理推算出輸出通道的響應(yīng)時(shí)序信號(hào)，并將測(cè)試庫(kù)保存在測(cè)試庫(kù)中，以備日后做整板檢測(cè)使用。
16）短路電阻測(cè)量功能：三段低電阻測(cè)量范圍，可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
17）中英文測(cè)試軟件，體積小，usb口連接電腦
18）V-I曲線測(cè)試電壓-10v~+10v內(nèi)可以調(diào)整，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性。
19）該設(shè)備可以64路通道為標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行擴(kuò)充，直至256路，保證了整板測(cè)試的zui大路數(shù)為256路。
20）V-I曲線測(cè)試,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
21）數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
22）V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試
23）LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
電路板故障檢測(cè)儀 技術(shù)參數(shù)：
| 數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格 | |
| 測(cè)試通道數(shù): | 64通道（可擴(kuò)展到256通道） |
| 總線隔離信號(hào)信道數(shù): | 4通道or 8通道 |
| 實(shí)時(shí)比對(duì)功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電壓: | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max.400mA | |
| 驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開(kāi)集極開(kāi)路 （內(nèi)定或由程序設(shè)定） |
| 驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low, high, 三態(tài) （tri-state） |
| 過(guò)電壓保護(hù)范圍: | <0.5V, >5.5V |
| zui長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間: | 根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
| 測(cè)試方式: | 在線及離線測(cè)試 （需外接離線測(cè)試盒） |
| 電源供給規(guī)格參數(shù) | |
| 自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| （ 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道） | |
| 過(guò)電壓保護(hù): | 7V |
| 過(guò)電流保護(hù): | 7A |
| 測(cè)試模式 | |
| 單次（Single）: | 單次測(cè)試 |
| 循環(huán)（Loop）: | 反復(fù)測(cè)試, 或條件式循環(huán)測(cè)試（PASS或FAIL） |
| 自動(dòng)掃描測(cè)試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
| zui小調(diào)整解析: | 100mV |
| 低信號(hào)位準(zhǔn)Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V | |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn)Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
| CMOS 1.0V to 3.0V | |
| 高信號(hào)位準(zhǔn)High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V | |
| 掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V | |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
| CMOS 2.5V | |
| 掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 測(cè)試功能及參數(shù) | |
| 集成電路功能測(cè)試 | 根據(jù)測(cè)試庫(kù)的功能進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)元件的原理和真值表進(jìn)行測(cè)試 |
| 元器件連接特性測(cè)試 | |
| 短路狀態(tài)偵測(cè) Short circuit detection | |
| 懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測(cè) Floating input detection | |
| 開(kāi)路狀態(tài)偵測(cè) Open circuit detection | |
| 連接狀態(tài)偵測(cè) Linked pin detection | |
| 電壓量測(cè)Voltage: | zui小解析 10mV 范圍 +/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測(cè) Logic state detection | |
| VI曲線測(cè)試: | 測(cè)試通道數(shù)64 – 256（擴(kuò)展） |
| | 電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V （可自行設(shè)定），可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 |
| | zui大測(cè)試電流 1mA |
| 曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形，隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù)，對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
| 配件 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配件 | 離線測(cè)試測(cè)試盒 |
| 1 x 64 way test cable （64通道測(cè)試線） | |
| 1 x 64 way split test cable （2X32通道測(cè)試線） | |
| 1 x V-I probe assembly （V-I曲線測(cè)試探棒） | |
| 1 x BDO cable （隔離通道信號(hào)測(cè)試線） | |
| 1 x Short locator cable （短路電阻測(cè)試探棒） | |
| 1 x Ground clip （接地信號(hào)夾） | |
| 1 x PSU lead set （電源輸出線） |
| 通訊及機(jī)箱 | |
| 內(nèi)置通訊接口 | PCI interface （通訊接口） |
| 外置通訊接口及機(jī)箱 | MultiLink case （標(biāo)配） 為 USB.通訊端口 |
| External case （選購(gòu)） 可升級(jí)到 5個(gè)安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 （USB.通訊端口）. |
了解詳細(xì)資料請(qǐng)點(diǎn)擊:http://www.ic168.cn
| 組件數(shù)據(jù)庫(kù) | |
| 可測(cè)試元器件種類: | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
| 可測(cè)試元器件封裝類型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP，用戶可以自己配置測(cè)試夾和轉(zhuǎn)接座 |
