技術規(guī)格:
LCR測量參數 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | ||||||||||||||||||||
測試頻率 | 20 Hz~1MHz,10mHz步進 | ||||||||||||||||||||
測試電平范圍 | f ≤ 1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)恒電平到5V | ||||||||||||||||||||
輸出阻抗 | 25Ω 50Ω, 100Ω | ||||||||||||||||||||
基本準確度 | 0.1% | ||||||||||||||||||||
測量速度或測試時間 | 快速:80次/s(f﹥30KHz),100次/s(f﹥1KHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | ||||||||||||||||||||
等效電路 | 串聯方式, 并聯方式 | ||||||||||||||||||||
量程方式 | 自動, 保持 | ||||||||||||||||||||
觸發(fā)方式 | 內部, 手動, 外部,總線 | ||||||||||||||||||||
平均次數 | 1-80 | ||||||||||||||||||||
清零功能 | 開路 / 短路掃頻清零 ,負載校準 | ||||||||||||||||||||
內部直流偏置源 | 電壓模式:-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進, 電流模式(內阻為50Ω):-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 | ||||||||||||||||||||
比較器功能 | 十檔:(九檔合格,一檔不合格),另有一個附屬檔 | ||||||||||||||||||||
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 | ||||||||||||||||||||
接口 | RS232C,HANDLER, | ||||||||||||||||||||
|
| ||||||||||||||||||||
列表掃描 | 10點列表掃描 | ||||||||||||||||||||
顯示器 | 320×240點陣大型圖形LCD | ||||||||||||||||||||
測試端 | 5端法 | ||||||||||||||||||||
顯示方式 | 直讀, ΔABS, Δ%, V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數 |
廣泛的測量對象:
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。
半導體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數測量。
其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。
介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數的損耗角評估。
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料:半導體材料的介電常數,導電率和C-V特性。
液晶材料:液晶單元的介電子常數、彈性常數等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
JK2818高頻自動元件分析儀的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。使用JK10301選件的100mA DC的偏置電流可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用JK1775電流疊加裝置,可使偏置電流達40A以精確分析高功率、大電流電感器件。
精確的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征,同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度,六位分辨率和自動電平控制(ALC)功能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容-電壓(C-Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是zui大測試電壓不夠。使用JK10301選件可提供分辨率為1%及zui高達20Vms的可編程測試信號電平,使它能在*條件下進行液晶材料的電容特性測量。
半導體材料和元件的測量
進行MOS型半導體制造工藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數,這些可從C-Vdc特性的測量結果推導出來。
20HZ-1MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。
適應多種領域的測試需要 提高生產效率
JK2818高頻自動元件分析儀 30次/秒的測試速度可滿足大多數生產場合高效測試的需要,從而提高生產廠的產能。內建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
JK10301及JK1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。
用戶友好的操作界面簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結果,各種設定狀態(tài)一目了然,交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設置
JK2818高頻自動元件分析儀提供有內部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置,
比較器功能 | |||
比較器 | 測量的參數值可以分選為10檔 測量得出的副參數也可以比較輸出IN/OUT信號 | ||
計數值 | 0 — 999999 | ||
列表掃描比較 | 掃描列表中的每個點都可以輸出HIGH/IN/LOW信號 | ||
輸入保護 | |||
當充電的電容連上測試端時,內部保護電路工作。 zui大可以保護的電容電壓可以由下式推出: where: Vmax ≤200V C is in Farads | |||
其他功能 | |||
存儲功能 | 外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設置文件 | ||
RS232C | 所有的儀器控制參數,測量值,比較值和掃描列表都可以通過RS232C實現多機通訊或對PC通訊。 | ||
選件 | |||
JK10301 | 功率放大/直流偏置 增加交流信號到 20Vrms / 0.2Arms. 擴展直流偏置范圍到 ±40V DC. | ||
JK10401 | 2m / 4m 測試線選件 擴展測試線的長度,增加2m或4m。 | ||
JK10202 | Handler 接口 輸入的9對上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。 Handler提供與自動分選機相連的接口。所有的信號都是單獨的。 | ||
準確度(細節(jié)請查看操作手冊) | |||
測試環(huán)境 | 熱機時間 | ≥30 分鐘 | |
環(huán)境溫度 | 23±5ºC | ||
測試信號電平 | 0.3Vrms – 1Vrms | ||
清零 | 開路 和 短路 | ||
測試線長度 | 0 m | ||
|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B | ±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading) 1. A 是圖1和2中的基本準確度因子 2. Ka and Kb 是阻抗比例因子 Ka 用于阻抗低于 500Ω Kb 用于阻抗高于 500Ω. 3. Kc 是差值校準值. 直接修正頻率時 Kc=0 其他頻率時 Kc=0.0003 4. C, L, B 測量時 D ≤ 0.1 R, G 測量時 Q ≤ 0.1 | ||
D | ±[Ae/100] (D的值) 當 A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100] | ||
Q (When Qx×De<0.1) | 當, Qx 符合 Qvalue時 De 是 D 的精確度 | ||
θ | DEG | ±[Ae/100] (degress 值) | |
RAD | ±[(180/π)×(Ae/100)] (degress 值) |
工作溫度, 濕度 | 0℃ — 40℃, ≤90% RH |
電源要求 | 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz |
功耗 | ≤100 VA |
尺寸(W×H×D) | 430 mm×185 mm×300 mm |
重量 | 8.5 kg Approx |