激光粒度分析儀 適用范圍 FDQ-0301激光顆粒分布測量儀是以物理學上富朗和菲衍射（Fraunhofer diffraction）和米氏散射（ Mie scattering ）為理論基礎。此理論可以簡單理解為：沿直線傳播的平行激光束，在傳播過程中遇到顆粒的遮擋后，發(fā)生了衍射和散射現象，并且大顆粒光散射角小，小顆粒光散射角大。見圖1-1為單個顆粒形成的衍射圖案，顆粒直徑越大，中心亮環(huán)越小，顆粒直徑越小，中心亮環(huán)越大。使用光電探測陣列在不同角度上接收光能，對于相應的角度，其光能是對應直徑的顆粒集合發(fā)生衍射（散射）造成的，相應其它角度上光能的強弱也就反應了對應直徑顆粒在整個顆粒集合中占有的比例，根據在不同角度上接收的散射光強弱，就可以反演出樣品的顆粒分布及各粒級間相對含量。功能特點1、重復性好本儀器的原理是Furanhofer衍射及Mie散射理論,由上述原理決定了本儀器在測試過程不受環(huán)境溫度變化、介質黏度、試樣密度等諸多因素的影響,只要將待測試樣均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測量結果。而且區(qū)別于沉降法,由于不需要沉降過程，因此在一次測試中可以多次采樣（5～20次任意設定），有效濾除了由于電噪聲，試樣分布不均等因素造成的影響，使儀器的測試重復性更好。2、測量范圍寬由于采用了大尺寸主光電探測陣列（70個通道）、側向輔助光電探測陣列（12個通道）及其它相應技術，使單透鏡測量范圍達0.15～400微米，并且由于本儀器使用過程中無須更換鏡頭和調整光學系統(tǒng)，提高了儀器的工作穩(wěn)定性，簡化了操作過程。3、采用半導體激光器半導體激光器具有光參數穩(wěn)定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優(yōu)點，克服了傳統(tǒng)He-Ne氣體激光器由于自然漏氣，需定期更換的缺點。4、自動化程度高操作簡單本儀器采用微機進行實時控制，自動完成數據采集、分析處理、結果保存和打印等功能,操作簡單,自動化程度高。5、測試速度快由于無須沉降過程，使測量時間大幅度縮小，在通常情況下，1分鐘內即可完成一次樣品測量。6、測試程序本儀器測試程序采用MSVC/C++6.0編制,在中文Windows95/98、Windows-XP操作系統(tǒng)下運行，操作直觀簡便,通俗易懂。報告輸出內容豐富,并且可以輸出英文測量報告,對于彩色打印機還可以輸出彩色測量報告。技術參數1、電壓：220±10V 頻率：50±0.5Hz 2、穩(wěn)壓電源輸出功率＞1500W3、連續(xù)工作時間：＜12小時 備注：連續(xù)工作超過22小時，需要關機，休息2個小時。4、激光器類型：半導體激光器波長：650nm出口功率：＞3.0mW