沖擊試樣缺口投影儀XT-50概述：
XT-50沖擊試樣缺口投影儀隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)
XT-50沖擊試樣缺口投影儀 一、沖擊試樣缺口投影儀XT-50概述： 隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗是*切實可行的方法。XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。XT-50沖擊試樣缺口投影儀其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。三、沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù)：
投影屏直徑： 180mm 工作臺尺寸： 方工作臺尺寸： 110×125mm 圓工作臺直徑： 90mm 工作臺玻璃直徑： 70mm 工作臺行程： 縱向： ±10mm 橫向： ±10mm 升降： ±12mm（無刻度） 工作臺轉(zhuǎn)動范圍： 0-360°（無刻度） 放大倍數(shù)： 儀器放大倍率： 50X 物鏡放大倍率： 2.5X 投影物鏡放大倍率： 20X 光源（鹵鎢燈）： 12V 100W 外形尺寸： 515×224×603mm（長×寬×高） 重量： 約18Kg 北京時代潤寶科技發(fā)展有限責(zé)任公司Beijing Times Bred Treasure Technology Co., Ltd.總部地址：北京市海淀區(qū)小營西路27號金領(lǐng)時代大廈10樓
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