集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
產品詳情
符合標準：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510）
適用范圍：
適用于對各種數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路和SOC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進行高溫動態(tài)老化試驗。
工作特性:
● 一板一區(qū)工作方式，zui多可同時進行16種規(guī)格、批次的器件進行篩選試驗，適應多品種、小批量。
● 超溫報警裝置，確保溫度條件安全施加。
● 可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度并描繪其與時間相關的曲線。
● 軟件全編輯信號產生方式，可滿足包括存儲器在內的多種集成電路器件的動態(tài)老化要求。
● 集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺開發(fā)，功能完備并有良好的可擴展性。
●　主從式RS485全雙工高速串行通訊接口，遠距離通訊能力強，數(shù)據(jù)傳輸安全可靠。
●　試驗容量和系統(tǒng)分區(qū)可根據(jù)實際情況另行配置。
●　試驗箱可選擇兩個小型試驗箱，每個試驗箱裝8塊老化板，可同時進行兩個溫度條件的試驗。
●　可提供調式臺，具備獨立的DUT試運行接口和維修接口，方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進行試驗狀態(tài)檢查。
電子電路進行高溫動態(tài)老化試驗。
技術性能：
型 號 ELEA-V ELEH-V
系統(tǒng)分區(qū) 16區(qū)（標準）
試驗容量 208×16（以DIP14計） /
試驗溫度 zui高150℃
數(shù)字信號路數(shù) 每板64路 每板8路
數(shù)字信號 每路可獨立編輯信號的數(shù)據(jù)、地址、控制、三態(tài)特性；信號zui高頻率：2MHz；zui小編程分辨率100ns，zui小編程步長100ns；編程深度256k；信號幅度程控范圍：2.0V～18.0V；zui大尋址深度：64G；數(shù)字信號可采用直接輸入、字符輸入、程序輸入三種方法編程；
模擬信號 多路多種類模擬信號發(fā)生單元及驅動電路，zui高頻率可達1MHz;zui大驅動電流：1A;信號幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
試驗狀態(tài)監(jiān)測 64路信號示波監(jiān)測接口；寬范圍數(shù)字、模擬信號頻率自動測試、記錄；二級電源電壓監(jiān)測；
二級電源電流、信號峰值監(jiān)測（可選）
通訊速率 500K
二級電源 可程控VCC、VMUX、VEE；
輸出能力：2V～18V/10A；
具備灌電流能力； 2組正電源：VCC1（+2V~+36V）、VCC2（+2V~+36V）；
2組負電源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；電流為zui大10A；
具有過流、過壓及過熱保護功能；
電源要求 輸入：AC380V,50Hz,三相（220V單相可選）；
整機功率：8kW以下 整機功率：12kW以下
重 量 約500kg
外形尺寸 （寬×高×深） 1313mm×1950mm×1350mm