一、測(cè)厚儀(超聲波測(cè)厚儀) UM-2D
西安笛卡爾測(cè)量?jī)x器有限公司目前提供的產(chǎn)品主要有:粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、視頻測(cè)量?jī)x、測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、投影儀、萬(wàn)工顯、齒輪測(cè)量中心、測(cè)厚儀、探傷儀、金相設(shè)備儀、硬度計(jì)、顯微鏡、*試驗(yàn)機(jī)等。涵蓋精密幾何量計(jì)量、無(wú)損檢測(cè)、金相理化、實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備等領(lǐng)域。代理的品牌主要有東京精密、德國(guó)馬爾、貴陽(yáng)新天、北京時(shí)代等。更多信息請(qǐng),或?qū)⒘慵y(cè)量要求發(fā)送至秦安公司,我們將及時(shí)與您,提供全套形狀測(cè)量解決方案.誠(chéng)信計(jì)量 保證質(zhì)量
二、測(cè)厚儀(超聲波測(cè)厚儀) UM-2D 簡(jiǎn)介:
UM-2D超聲波測(cè)儀具有小巧輕便,操作簡(jiǎn)單,功能。兩種工作模式,其中涂層模式即測(cè)量穿過(guò)涂層的操作模式,在被測(cè)物表面有油漆時(shí),無(wú)需去除油漆而測(cè)量材料的凈厚度。
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。
三、測(cè)厚儀(超聲波測(cè)厚儀) UM-2D應(yīng)用領(lǐng)域:
UM-2D超聲波測(cè)厚儀是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測(cè)量技術(shù)于一體的、*的無(wú)損檢測(cè)儀器,可以對(duì)各種材料的板材和加工零件作精確測(cè)量,廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域;另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),檢測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。
四、測(cè)厚儀(超聲波測(cè)厚儀) UM-2D技術(shù)數(shù)據(jù)
工作原理
脈沖~回波方式(標(biāo)準(zhǔn)模式,用于普通厚度測(cè)量)
回波~回波方式(涂層模式,用于不去除油漆層的基材凈厚度測(cè)量)
測(cè)量范圍
0.8~300mm(標(biāo)準(zhǔn)模式)
3.0~18mm (涂層模式)
取決于所用探頭、所測(cè)材料、表面狀況
單位和顯示分辨率
毫米-0.01,0.1
英寸-0.001,0.01
探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)
一點(diǎn)校準(zhǔn)(用于常規(guī)的厚度測(cè)量)
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(測(cè)量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí),可顯著提高測(cè)量精度)
V路徑修正
自動(dòng)V聲程修正,補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度
示值誤差
±0.05mm (10mm以下)
±0.5% H+0.01(10mm以上,)
H為被測(cè)物厚度
重復(fù)性
±0.05mm
顯示屏
128×64點(diǎn)陣液晶屏(42×57毫米)
具有EL背光,可調(diào)節(jié)對(duì)比度
厚度值數(shù)字高度可達(dá)13.75毫米
測(cè)量刷新頻率
常規(guī)測(cè)量時(shí)4Hz,zui小值掃查時(shí)25Hz
材料聲速范圍
1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
劃分5個(gè)數(shù)組,可存儲(chǔ)500個(gè)厚度值
工作語(yǔ)言
中文、英文
電源
兩節(jié)1.5V AA電池
當(dāng)電池電量不足時(shí),有低電壓提示
操作時(shí)間
兩節(jié)5號(hào)電池,使用時(shí)間可達(dá)200小時(shí)
自動(dòng)關(guān)機(jī)
5分鐘無(wú)操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)
工作溫度
-10℃~+50℃,有特殊要求可達(dá)-20℃
尺寸
149mm×73mm×32mm (H×W×D)
重量
五、測(cè)厚儀(超聲波測(cè)厚儀)附件
UM-2D含電池200g
標(biāo)準(zhǔn)配置
UM系列測(cè)厚儀
標(biāo)配探頭
儀器箱
兩節(jié)堿性電池
耦合劑
操作手冊(cè)
合格證
裝箱單
選配件
橡膠外套;眾多可供選擇的探頭;校準(zhǔn)用階梯試塊;耦合劑及高溫耦合劑