大功率IGBT全參數(shù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
我公司科研人員經(jīng)過連續(xù)技術(shù)攻關(guān), 在原有YB6500半導(dǎo)體分立器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)基礎(chǔ)上, 自行研發(fā)出*臺(tái)igbt測(cè)試儀,圓滿解決了功率IGBT等新型半導(dǎo)體器件的全參數(shù)測(cè)試難題,*了國(guó)內(nèi)在半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域的空白,該項(xiàng)產(chǎn)品綜合技術(shù)指標(biāo)達(dá)到水平。
目前我公司提供的該項(xiàng)新產(chǎn)品采用模塊式功放結(jié)構(gòu), 主極電流400A/500A/1000A/1250A可選, 2500A/5000A選項(xiàng)可以根據(jù)用戶需要定制。
該產(chǎn)品可測(cè)試IGBT參數(shù)包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,r CE等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測(cè)試精度, 大電流指標(biāo)保證0.5%以內(nèi)重復(fù)測(cè)試精度, 達(dá)到目前國(guó)外進(jìn)口同類產(chǎn)品水平。
絕緣柵晶體管、IGBT測(cè)試儀參數(shù)及精度
電參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V(80V)(2) | 100nA(100pA)(1) - 50mA 100nA(100pA)(1)- 3A | 1nA(50pA)(1) | 1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)(1) |
BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%+100mV |
VGETH | 0.10V- 20.0V(80V)(2) | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
VCESAT ICON VGEON VF GFS(混合參數(shù)) | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
(1) 需要YB550選件
(2) 需要柵極80V選件
該IGBT測(cè)試儀可針對(duì)目前封裝的多單元IGBT特征, 根據(jù)用戶需要提供
主要特征簡(jiǎn)述:
★YB半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀是我公司從國(guó)外引進(jìn)的國(guó)產(chǎn)化項(xiàng)目。該分立器件測(cè)試儀目前已通過國(guó)內(nèi)兩家計(jì)量站的綜合檢測(cè)認(rèn)定。經(jīng)過與國(guó)內(nèi)其他分立器件測(cè)試系統(tǒng)對(duì)比使用,YB測(cè)試系統(tǒng)在系統(tǒng)硬件的可靠性、穩(wěn)定性、功率范圍、測(cè)試范圍、系統(tǒng)測(cè)試精度、測(cè)試參數(shù)的*性等多項(xiàng)指標(biāo)已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過國(guó)內(nèi)產(chǎn)品。 YB測(cè)試系統(tǒng)目前是國(guó)內(nèi)的半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀器。
★作為精密儀器引進(jìn)項(xiàng)目,YB半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀系統(tǒng)嚴(yán)格按照國(guó)軍標(biāo)產(chǎn)品之標(biāo)準(zhǔn),全部選用優(yōu)質(zhì)可靠的元器件。系統(tǒng)嚴(yán)格按照軍用整機(jī)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試檢驗(yàn),確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。YB半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀所使用的各種繼電器,全部采用國(guó)外公司生產(chǎn)的水銀繼電器,從而大大提高了誼邦系統(tǒng)的測(cè)試速度,提高了系統(tǒng)的使用壽命。
★服務(wù)周到是我公司的優(yōu)勢(shì)之一。選用YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),享受YB電子服務(wù),我們的服務(wù)可以在一小時(shí)內(nèi)答復(fù)解決方案,到達(dá)用戶現(xiàn)場(chǎng)當(dāng)天解決系統(tǒng)出現(xiàn)的所有問題。
★YB分立器件測(cè)試儀在實(shí)際操作中,可真實(shí)達(dá)到電壓2000V、電流50A的測(cè)試條件。在極限值條件下測(cè)試,系統(tǒng)同樣保持高精度和良好的重復(fù)性、穩(wěn)定性。此項(xiàng)指標(biāo)遠(yuǎn)遠(yuǎn)于國(guó)內(nèi)其他產(chǎn)品。
★本分立器件測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試原理和方法符合國(guó)家相關(guān)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。
★大功率器件測(cè)試采用脈沖法測(cè)試,脈沖寬度為規(guī)定的300uS。
★YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)*,升級(jí)能力強(qiáng)。為用戶今后做測(cè)試系統(tǒng)升級(jí)提供了有力的技術(shù)保障。YB元器件測(cè)試系統(tǒng)硬件支持電壓升級(jí)到5000V,電流升級(jí)到1250A。
★系統(tǒng)采用*的嵌入式計(jì)算機(jī)結(jié)構(gòu),可以實(shí)現(xiàn)脫機(jī)測(cè)試功能。提高了系統(tǒng)的可靠性和使用靈活性。
★YB分立器件測(cè)試系統(tǒng)和YB半導(dǎo)體測(cè)試夾具全部采用多級(jí)開爾文技術(shù),采用無電纜連接設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。各種元器件測(cè)試夾具均由高級(jí)器件插座和高級(jí)插頭采用開爾文技術(shù)連接裝配,不僅確保長(zhǎng)壽命工作,可靠性*,*使用壽命在5X106次以上。使測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確無誤。
★YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)具有被測(cè)器件引腿接觸自動(dòng)判斷功能。遇到器件接觸不良時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止對(duì)被測(cè)器件測(cè)試,可確保被測(cè)器件不受損壞。
★真正的動(dòng)態(tài)跨導(dǎo)測(cè)試。(國(guó)內(nèi)其他元器件測(cè)試系統(tǒng)采用直流方法測(cè)動(dòng)態(tài)跨導(dǎo),測(cè)試結(jié)果與器件實(shí)際值偏差很大)。
★二極管極性自動(dòng)判別測(cè)試功能,不需人工判別極性測(cè)試,方便操作。
★具有單參數(shù)測(cè)試延時(shí)編程功能,用戶可根據(jù)不同器件要求選擇延遲時(shí)間,增強(qiáng)參數(shù)測(cè)試穩(wěn)定性。
★豐富的WINDOWS界面菜單編程和控制能力,方便的用戶信息文件、統(tǒng)計(jì)文件方式,可以給出批次測(cè)試失效數(shù)量、合格數(shù)量,按實(shí)測(cè)指標(biāo)分類器件數(shù)量。測(cè)試結(jié)果可以給出excel等多種形式。
★96個(gè)程序步,99種分類。
★混合參數(shù)編程方式(參數(shù)測(cè)試編程不受器件類別限制),可以對(duì)同一器件選用不同類別器件的參數(shù)進(jìn)行編程,大大的擴(kuò)展系統(tǒng)測(cè)試能力,對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試和分析,軟件使用方便靈活。自動(dòng)/固定量程測(cè)試功能,選用自動(dòng)量程時(shí),系統(tǒng)根據(jù)實(shí)測(cè)范圍自動(dòng)調(diào)整以達(dá)到zui高測(cè)試精度。內(nèi)部設(shè)有可選擇的電流型負(fù)載和阻型負(fù)載。
★阻型負(fù)載:機(jī)內(nèi)設(shè)有不同阻值的電阻負(fù)載供選擇。
★電流型負(fù)載:機(jī)內(nèi)設(shè)有不同檔位的恒流源負(fù)載供選擇。
★用戶可以按照參數(shù)要求,自己設(shè)定參數(shù)自動(dòng)分檔功能,以便把不同參數(shù)的器件自動(dòng)加以區(qū)分、配對(duì)提高器件使用價(jià)值。
★高速參數(shù)測(cè)試和存儲(chǔ)功能,參數(shù)分析能力。平均每參數(shù)測(cè)試時(shí)間只有1毫秒。
★在線系統(tǒng)故障判斷修復(fù)能力,便于用戶應(yīng)急處理排除故障。
★自檢、自校準(zhǔn)功能。系統(tǒng)提供自檢測(cè)試程序和夾具。系統(tǒng)故障自動(dòng)判別到器件級(jí)。自校準(zhǔn)功能可將系統(tǒng)誤差存入內(nèi)置計(jì)算機(jī),不需人工校準(zhǔn)即可實(shí)現(xiàn)精確測(cè)試。
★錯(cuò)誤信息提示和在線幫助,面板顯示被測(cè)器件不合格參數(shù)和單步實(shí)測(cè)參數(shù)值。在線幫助是在線提示用戶如何簡(jiǎn)便使用該測(cè)試系統(tǒng)。
★測(cè)試結(jié)果計(jì)算功能,系統(tǒng)可以將任意測(cè)試程序步的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算,形成新的測(cè)試結(jié)果,方便用戶進(jìn)行分析,解決、擴(kuò)展特殊參數(shù)的測(cè)試可以將測(cè)試程序中任意步的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行計(jì)算,形成新的測(cè)試結(jié)果,方便用戶對(duì)器件進(jìn)行分析。
★YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)單步測(cè)試功能,用于對(duì)單個(gè)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)將測(cè)試結(jié)果值在前面板上顯示,方便用戶分析。
★YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果分檔功能:用戶可以按照參數(shù)要求,設(shè)定參數(shù)自動(dòng)分檔功能,系統(tǒng)把不同參數(shù)的器件自動(dòng)加以區(qū)分、配對(duì),提高器件使用價(jià)值。
★YB半導(dǎo)體分立測(cè)試系統(tǒng)機(jī)械手、探針臺(tái)、多終端、可選掃描、多路陣列擴(kuò)展測(cè)試能力。
★YB元器件測(cè)試系統(tǒng)可進(jìn)行實(shí)時(shí)運(yùn)算,允許測(cè)試結(jié)果比較與數(shù)值計(jì)算。
★功率源選用久經(jīng)驗(yàn)證的電源線路,結(jié)合航天電源設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),在此基礎(chǔ)上形成具有自主產(chǎn)權(quán)的功率源發(fā)明技術(shù)。
★YB半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)綜合美國(guó)、日本多種*結(jié)構(gòu)技術(shù)。
★承諾確保系統(tǒng)使用壽命可以達(dá)到十年以上,系統(tǒng)功能正常,參數(shù)指標(biāo)符合出廠標(biāo)準(zhǔn)。
上述只列出該系統(tǒng)的部分常用特征。其它多種綜合處理能力在使用中可以不斷開發(fā)擴(kuò)大??筛鶕?jù)用戶測(cè)試使用的要求,方便地選通其他特征。