JW-BK技術(shù)參數(shù)
儀器功能 | 比表面積:BET單點(diǎn)(P/P0=0.2)比表面積,BET多點(diǎn)比表積;langmuir比表面積; t-圖包括微孔內(nèi)表面的總比表面,t-圖外比表面積; BJH吸附累積孔內(nèi)表面積(孔徑2~100nm范圍內(nèi)); BJH脫附累積孔內(nèi)表面積(孔徑2~100nm范圍內(nèi)) 總孔體積:單點(diǎn)(吸附zui高點(diǎn))計(jì)算的總孔體積; BJH吸附累積總孔體積(孔徑2~100nm范圍內(nèi)); BJH脫附累積總孔體積(孔徑2~100nm范圍內(nèi)); t-圖微孔體積(孔徑<2nm) 平均孔徑:吸附平均孔徑;BJH吸附平均孔徑(孔徑2~100nm范圍內(nèi));BJH脫附平均孔徑(孔徑2~100nm范圍內(nèi)) |
測(cè)量范圍 | 比表面≥0.01m2/g,無(wú)規(guī)定上限;孔徑0.7~400nm |
測(cè)試精度 | 測(cè)試重復(fù)性誤差≤2% |
樣品類型 | 粉末、顆粒、纖維及片狀材料 |
樣品數(shù)量 | 1個(gè)測(cè)試樣品,2個(gè)預(yù)處理樣品;可測(cè)樣品數(shù)量及檢測(cè)器數(shù)量可根據(jù)具體需求進(jìn)行擴(kuò)展,滿足多樣品同時(shí)測(cè)試的需求 |
測(cè)試效率 | BET比表面每個(gè)樣品12~15分鐘;從吸附等溫曲線測(cè)定BET比表面及BJH孔徑分布~100分鐘;從吸、脫附曲線測(cè)定BET比表面及BJH孔徑分布~3.5小時(shí) |
方 法 | 靜態(tài)容量法 |
原 理 | 氮吸附,多層吸附理論,毛細(xì)凝聚理論 |
氣 體 | 只需高純N2(99.99%,價(jià)格較低),無(wú)需其它載氣(如He,價(jià)格較高) |
氮 分 壓 | 常規(guī)P/P0范圍0.01~0.995,zui小可分辨相對(duì)壓力P/P0=5×10-4 |
真 空 度 | 極限真空度為6.8×10-2Pa |
壓力精度 | 壓力傳感器誤差≤0.25% |
控制系統(tǒng) | 國(guó)內(nèi)*真正實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化和智能化控制,測(cè)試過(guò)程中無(wú)需人工添加液氮,需人工干預(yù),儀器自動(dòng)完成測(cè)試過(guò)程 |
預(yù) 處 理 | 與真空系統(tǒng)相連,預(yù)處理更充分;同機(jī)設(shè)有兩個(gè)樣品的預(yù)處理工位,每個(gè)樣品可單定預(yù)處理溫度和時(shí)間,溫度可控范圍50~400℃±1℃,測(cè)試樣品,也可于原位進(jìn)行預(yù)處理繼而同位進(jìn)行測(cè)試 |
軟 件 | 在Windows平臺(tái)上提供自動(dòng)控制測(cè)試和數(shù)據(jù)處理/報(bào)告系統(tǒng),測(cè)試結(jié)束后通過(guò)快捷預(yù)覽窗口直接看到全部結(jié)果,無(wú)需進(jìn)行數(shù)據(jù)后處理,軟件功能強(qiáng)大,界面友好 ,操作方便 |