X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。
基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900主機(jī)的全面自動(dòng)化控制,分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定。
可同時(shí)測(cè)定zui多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。