AD3000便攜式X熒光分析儀

我公司根據(jù)國(guó)內(nèi)外冶金、地質(zhì)等相關(guān)企業(yè)對(duì)礦產(chǎn)品品位快速分析的市場(chǎng)需求，合作開發(fā)了一系列監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過程的分析檢測(cè)儀器。其中AD3000便攜式X熒光分析儀是集當(dāng)今電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和核分析方法于一體，具有微機(jī)化程度高、人機(jī)界面友好、分析精度高、分析速度快、性能價(jià)格比高等特點(diǎn)，成為相關(guān)企業(yè)進(jìn)行生產(chǎn)控制和科學(xué)研究的*設(shè)備。適用于各有色、黑色礦山、選礦廠、冶煉廠、購(gòu)礦企業(yè)、質(zhì)檢站進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量分析和地質(zhì)勘探、作巖礦露頭現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量、鉆孔巖蕊直接測(cè)量、坑道井壁測(cè)量和室內(nèi)粉末測(cè)量.

2測(cè)量原理
    X光管產(chǎn)生的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子，當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放出該原子所固有能量的X射線，稱之為特征X射線（X熒光）。各種元素的原子受激發(fā)后，在退激過程中放出的特征X射線能量各不相同，例如鐵的特征X射線（FeKα）能量為6.4KeV,銅的特征X射線(CuKα)能量為8.0KeV等等,依次可進(jìn)行定性分析。在一定條件下，特征X射線的強(qiáng)度與元素含量（品位）成正比，依此可進(jìn)行定量分析。
對(duì)于半無限大空間飽和厚度，并且表面均勻的樣品，當(dāng)二次熒光可以忽略時(shí)，目標(biāo)元素的特征X射線強(qiáng)度（IK）可以用下式表示：
IK=KI0Ck/(μ0/sinφ+μK/sinψ)式中：K為與探測(cè)器的激發(fā)效率有關(guān)的常數(shù)；I0為入射射線強(qiáng)度；Ck 為目標(biāo)元素的含量；μ0為入射射線在樣品中的質(zhì)量吸收系數(shù)；μK 為特征X射線在樣品中的質(zhì)量吸收系數(shù)；φ為入射射線與樣品表面間的夾角；ψ為特征射線與樣品表面間的夾角。這是X射線熒光分析zui基本理論公式。在實(shí)際樣品分析時(shí)，由于樣品中物質(zhì)成分差異，還應(yīng)考慮基體效應(yīng)校正，才能得到正確的結(jié)。

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