HN2600MX/C旗艦型電路在線維修測(cè)試系統(tǒng)
數(shù)字通道:40路 +8路隔離總線競爭數(shù)字通道
數(shù)字通道電平范圍:多邏輯電平±15V內(nèi)可調(diào),滿足全系列數(shù)字器件測(cè)試;
模擬通道:160路 +4路ASA動(dòng)態(tài)巡檢通道 +4路觸發(fā)脈沖通道(八種觸發(fā)模式)
模擬通道電壓范圍:±28V內(nèi)以0.5V步距可調(diào),雙通道屬性
外供電源:3.3V/4A; +5V/4A;-5V/2A;±12V/2A;程控加電;過流保護(hù);
通訊接口:標(biāo)準(zhǔn)USB接口,支持熱插拔,可運(yùn)行在Windows XP、Vista系統(tǒng)
性能測(cè)試:集成電路、分立元件 離線主要直流參數(shù)檢測(cè)(用于器件篩選)
一、技術(shù)應(yīng)用特點(diǎn):
◇ 雙處理器技術(shù):集成16位的下位機(jī),擁有獨(dú)立的CPU系統(tǒng),
不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響,獨(dú)立運(yùn)行;
◇ 標(biāo)準(zhǔn)的USB2.0通訊接口:與計(jì)算機(jī)通訊安全、快速、便捷,支持熱插拔;
安全穩(wěn)定運(yùn)行于的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi),
◇ 測(cè)試儀軟、硬件與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步發(fā)展延伸;
雙 ◇ 探棒/雙板/雙測(cè)試夾直接對(duì)比測(cè)試,適用于相同電路板診斷測(cè)試;
◇ 后驅(qū)動(dòng)(Backdoor)技術(shù):引進(jìn)美國后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù),
用來實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線(In-circuit)的隔離;
◇ 自適應(yīng)測(cè)試技術(shù):自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼,
確立測(cè)試條件,保證測(cè)試的準(zhǔn)確性;
◇ 數(shù)字器件的閾值電平可調(diào):在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過測(cè)試,逐步提高門檻到極限值,
可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障(軟故障);
◇ ASA(Analog Signature Analysis)模擬特征分析技術(shù):
引入ASA技術(shù)用來解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試;
◇ 三端器件(三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場效應(yīng)管等)的測(cè)試:
引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件;
◇ 電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試:
在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量(阻抗、電感量)及漏電阻值;
◇ 對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能:
當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi),系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度;
◇ 自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整(自動(dòng)選檔功能):
自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗,匹配*的測(cè)試參數(shù),以降低操作難度。
二、主要技術(shù)指標(biāo):
1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
2.通訊接口:標(biāo)準(zhǔn)的USB接口。
3.?dāng)?shù)字測(cè)試通道: 40通道,支持驅(qū)動(dòng)電平 ±(1~15)V。
4.?dāng)?shù)字通道電平范圍:±15V內(nèi)全邏輯電平通道。
5.模擬測(cè)試通道: 160路(雙屬性通道)。
6.總線隔離數(shù)字通道: 8通道。
7.后驅(qū)動(dòng)電流: ≥300 mA。
8.?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度: 1~610 Ktv/S
9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 13種。
10.?dāng)?shù)字器件的閾值電平:
TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。
11.程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)功能):
3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。
12.電源加電延遲時(shí)間:(0.5~7)秒 6檔可選。
13.測(cè)試探棒: 2組8個(gè)測(cè)試口。
14.模擬信號(hào)掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。
15.VI分辨率: 8~128點(diǎn)/周期。
16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
17.模擬通道zui大測(cè)試頻率: 2.6KHZ。
18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。
19.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值: 25Ω±5Ω。
20.腳踏開關(guān):支持。
21、模擬通道zui大測(cè)試頻率: 16KHZ;
22、ASA(VI)測(cè)試頻率匹配: 1HZ~16KHZ,共30檔可選;
23、脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V;
24、脈沖發(fā)生器發(fā)生方式: 8種
① P1方式:正的直流電平;
② P2方式:負(fù)的直流電平;
③ P1+方式:正脈沖,由0度開始,寬度為N×1/64π;
④ P1-方式:負(fù)脈沖,由π開始,寬度為N×1/64π;
⑤ P2+方式:正脈沖,結(jié)束于π,寬度為N×1/64π;
⑥ P2-方式:負(fù)脈沖,結(jié)束于2π,寬度為N×1/64π;
⑦ P1+與P1-方式:P1+與P1-方式的組合;
⑧ P2+與P2-方式:P2+與P2-方式的組合。
注:寬度中的N≤64,可設(shè)置。
25、電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值: 25Ω±5Ω;
26、連線提取一次操做的器件數(shù): 5個(gè)元器件。
27. 離線性能測(cè)試:可精確檢測(cè)全系列邏輯器件的性能:檢測(cè)邏輯器件的輸入、輸出漏流及帶負(fù)載能力,主要測(cè)試Voh、Vol、Ioh 、Iol、Vih、Vil、Iih、Iil、Iozh、Iozl等參數(shù)??蓽y(cè)試出功能是好的、性能不好,上機(jī)后電路板不能正常工作的芯片;