產品概述
GDS-80S晶振阻抗測試儀是專為電子元器件制造商、通信設備研發(fā)機構及質量檢測中心設計的測試設備。通過自主研發(fā)的雙通道同步測量技術與寬頻阻抗分析算法，該儀器可精準測量石英晶體諧振器、振蕩器的阻抗特性（ESR）、諧振頻率（Fr）和反諧振頻率（Fa），支持頻率覆蓋10KHz至100MHz，滿足5G通信、物聯(lián)網(wǎng)模組、車載電子等高精度晶振的檢測需求。
核心技術亮點
1. 微歐級阻抗分辨率
搭載動態(tài)阻抗補償技術（DICT），阻抗測量精度可達±0.5Ω@10MHz，有效識別晶振微小缺陷，降低批次性不良率。
2. 全自動頻點掃描
支持一鍵式0.1Hz步進頻率掃描，10秒內生成阻抗-頻率曲線圖，配合7英寸觸控屏實時顯示數(shù)據(jù)，大幅提升產線檢測效率。
3. 抗干擾工業(yè)級設計
內置電磁屏蔽模塊與溫度補償系統(tǒng)，工作溫度范圍-20℃~60℃，適應復雜車間環(huán)境，數(shù)據(jù)重復性精度＜0.02%。
4. 智能數(shù)據(jù)管理
支持USB/以太網(wǎng)數(shù)據(jù)導出，兼容CSV、Excel格式，可連接MES系統(tǒng)實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)云端同步與SPC分析。
典型應用場景
5G基站晶振篩選：快速驗證高頻晶振的阻抗匹配性能
車載電子可靠性測試：-40℃~85℃高低溫循環(huán)下的晶振穩(wěn)定性評估
智能穿戴設備研發(fā)：微型貼片晶振（SMD）的批量自動化檢測
產線質量控制：ESR超限報警、良品率統(tǒng)計與報告生成
競爭優(yōu)勢對比
| 功能項 | GDS-80S | 常規(guī)測試儀 |
|---|---|---|
| 測試速度 | ≤15秒/件（全參數(shù)） | 30-60秒/件 |
| 頻率范圍 | 1MHz-200MHz | 通常≤100MHz |
| 數(shù)據(jù)接口 | USB/以太網(wǎng)/Wi-Fi三模 | 僅USB |
| 校準周期 | 智能自檢（12個月/次） | 人工校準（6個月/次） |
用戶評價
某通信設備制造商反饋：
“GDS-80S晶振阻抗測試儀替換原有進口設備后，產線檢測效率提升40%，異常晶振檢出率從92%提高到99.6%，年損耗成本降低17萬元?！?/p>
服務與支持
無憂保修：整機3年質保，核心模塊終身維護
免費培訓：提供操作視頻庫及線下工程師駐廠指導
定制服務：支持非標頻率擴展與私有協(xié)議對接
