手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持式分析儀 探測器:13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源:40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間:10-200秒(可手持式或座立式測試) 檢測對象:固體、液體、粉末 檢測范圍:硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素:多至26個元素 元素檢出限:0.001%~0.01% 校正方式: 銀(Ag) 性:自帶模式,非人員無法使用 Data使用性:可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯,可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印,配備海量存儲卡 電 源: 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時

合金材料分析 目前在合金材料檢測領(lǐng)域,它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定,是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和制造領(lǐng)域的成份鑒定工具。 重金屬檢測 除了傳統(tǒng)的合金材料檢測,貴金屬,RoHs合規(guī)篩查,礦石分析,手持式XRF儀器同樣在地質(zhì)勘探和環(huán)境評估中發(fā)揮著重要的作用,通過分析土壤中的重金屬元素,可以知道整個區(qū)域的礦產(chǎn)分布和污染分布。 其他領(lǐng)域 XRF技術(shù)還可以用于一些新的領(lǐng)域,比如風(fēng)電和汽車領(lǐng)域,通過對油品中金屬元素含量進(jìn)行檢測,可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應(yīng)用領(lǐng)域正在被開發(fā)出來,使得XRF技術(shù)在各個行業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。比如工廠的生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)的焊接質(zhì)量控制,也會用到XRF合金分析儀。

手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng):
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放,防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔,檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除,以免造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確,被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應(yīng)在檢測時注意,防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時,要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時,應(yīng)更換電池,充電。
手持式光譜分析儀是金屬制造業(yè)的質(zhì)量檢測*手段,實現(xiàn)生產(chǎn)過程的原材料管控,保證工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量。所能測試的樣品形狀包括削屑、刨花、棒、線、細(xì)小的工件和部件。手持式合金分析儀每天檢測上千個金屬合金樣 品。即使是初級檢驗員也能很有把握地將大量的 樣 品 測 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 ,比常規(guī)的化學(xué)測試手段和方便。手持式合金光譜分析儀測試時間是1~2秒,如果再延 長幾秒鐘的測試時間,則可得出更準(zhǔn)確的實驗室級別的測 試結(jié)果。無需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點,螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持XRF合金城分析儀檢測。