測試內(nèi)容 | 電容范圍 | 試品類型 | 測試誤差 |
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ | 100 pF~40000pF | 非接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0010) | ||
10pF~100pF或40000pF | 非接地 | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0020) | ||
3pF~10pF | 非接地和接地 |