試塊是一種按一定用途設(shè)計(jì)制作的具有簡(jiǎn)單形狀的人工反射體。它是探傷標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)組成部分，是判定探傷對(duì)象質(zhì)量的重要尺度。   在超聲波探傷技術(shù)中，確定探傷靈敏度、顯示探測(cè)距離、評(píng)價(jià)缺陷大小以及測(cè)試儀器和探頭的組合性能等，都是利用試塊來(lái)實(shí)現(xiàn)的。運(yùn)用試塊為參考依據(jù)來(lái)進(jìn)行比較是超聲波探傷的一個(gè)特點(diǎn)。   

根據(jù)使用的目的和要求，通常將試塊分成標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊兩大類(lèi)。  

1．標(biāo)準(zhǔn)試塊  由法定機(jī)構(gòu)對(duì)材質(zhì)、形狀、尺寸、性能等作出規(guī)定和檢定的試塊稱(chēng)為標(biāo)準(zhǔn)試塊。這種試塊若是由國(guó)際機(jī)構(gòu)（如國(guó)際焊接學(xué)會(huì)、國(guó)際無(wú)損檢測(cè)協(xié)會(huì)等）制定的，則稱(chēng)為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊（如IIW試塊）；若是國(guó)家制定的，則稱(chēng)為國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)塊（如日本STB—G試塊）。  我國(guó)規(guī)定：CSK—IB試塊為焊縫探傷用標(biāo)準(zhǔn)試塊。CSK—IB試塊是ISO—2400標(biāo)準(zhǔn)試塊（即IIW—I型試塊）的改進(jìn)型。      該試塊的主要用途是：  ⑴ 利用R100mm圓弧面測(cè)定探頭入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度，利用φ50mm孔的反射波測(cè)定斜探頭折射角（K值）。  ⑵ 校檢探傷儀水平線(xiàn)性和垂直線(xiàn)性。  ⑶ 利用φ1.5mm橫孔的反射波調(diào)整探傷靈敏度,利用R100圓弧調(diào)整探測(cè)范圍。 ⑷ 利用φ50mm圓孔估測(cè)直探頭盲區(qū)和斜探頭前后掃查聲束特性。 ⑸ 采用測(cè)試回波幅度或反射波寬度的方法可測(cè)定遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力。  

2．對(duì)比試塊  對(duì)比試塊又稱(chēng)參考試塊，它是由各專(zhuān)業(yè)部門(mén)按某些具體探傷對(duì)象規(guī)定的試塊。國(guó)標(biāo)規(guī)定RB試塊為焊縫探傷用對(duì)比試塊。該試塊共有三種，即RB—1（適用于8～25mm板厚）、RB—2（適用于8～100mm板厚）和RB—3（適用于8～150mm板厚）。    RB試塊主要用于繪制距離—波幅曲線(xiàn)，調(diào)整探測(cè)范圍和掃描速度，確定探傷靈敏度和評(píng)定缺陷大小。它是對(duì)工件進(jìn)行評(píng)級(jí)判廢的重要依據(jù)