基本信息：
• 產(chǎn)品名稱：連線式電路板生產(chǎn)制造故障分析系統(tǒng)
• 產(chǎn)品型號(hào)：SRC AL309
產(chǎn)品用途：
1.檢測PCB的線路開路、短路，所有零件的焊接情況，包括元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開短路故障，并準(zhǔn)確告知故障點(diǎn)。
2.除元件測試功能外，還具有TestJet、可編程電源輸出、電壓電流采集、芯片燒寫等功能測試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
核心技術(shù)創(chuàng)新----測試速度更快、測試精度穩(wěn)定性更高、功能擴(kuò)展性更靈活
1.測試核心單核、雙核、四核自由切換，由軟件控制,無需更改硬件，兼顧多點(diǎn)數(shù)的大電路板與多拼板的小電路板，實(shí)現(xiàn)高效率檢測。
2.四針八線檢測技術(shù)有效消除探針接觸電阻影響，穩(wěn)定檢測小至0.01歐的電阻值，可以分辨到1毫歐。
3.應(yīng)用雙通道高速同步采集技術(shù)，同時(shí)提高測試速度及精度。
4.程控電源配置更靈活，可滿足不同被測產(chǎn)品對(duì)程控電源的需求。
操作使用創(chuàng)新----編程操作更方便、方法組合更柔性、數(shù)據(jù)管控更安全
1.可進(jìn)行二次開發(fā)的DIY編程模式，方便用戶自主開發(fā)特殊器件的組合檢測方法。
2.放電點(diǎn)可編輯，測試前、后放電、單測試步放電、全板放電方法相結(jié)合，有效保護(hù)測試系統(tǒng)與被測電路板。
3.信號(hào)源激勵(lì)有自動(dòng)設(shè)置及人工調(diào)整。人工可以調(diào)整信號(hào)源激勵(lì)信號(hào)，滿足特殊要求。
4.單步自動(dòng)循環(huán)測試功能，方便工程師調(diào)試被測板。
5.采用表格式編程，方便測試步的創(chuàng)建，以及調(diào)整測試步的順序。
6.靈活的拼板測試，在一個(gè)夾具上可同時(shí)測試相同和不同的拼板，拼板子程序可復(fù)制實(shí)現(xiàn)快速編程。
7.針號(hào)設(shè)置可自由定義，便于針床制作。
8.四級(jí)權(quán)限管理，數(shù)據(jù)分級(jí)密碼保護(hù)，測試程序數(shù)據(jù)管理更安全可靠。
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)創(chuàng)新----結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)更合理、夾具更換更方便、使用維護(hù)成本更低
1.的通道板布局，節(jié)約了界面尺寸，使針床制作更經(jīng)濟(jì)合理。
2.的通道板拔插方式，無需從設(shè)備左右兩側(cè)進(jìn)行維護(hù)，減少了維護(hù)難度和機(jī)臺(tái)占地面積。
3.針床下壓高度軟件可配置，測試中可二次下壓，兼容高低探針。
4.導(dǎo)軌可根據(jù)軟件配置自動(dòng)調(diào)節(jié)寬度，減少人工干預(yù)，增強(qiáng)調(diào)節(jié)的精度。
5.的定制型探針直接對(duì)接夾具，線阻干擾更小，設(shè)備性能更穩(wěn)定。
6.針床更換有保護(hù)，不會(huì)損壞針床。
7.創(chuàng)新的界面針保護(hù)裝置，避免界面針污損，基本實(shí)現(xiàn)界面針終身免維護(hù)。
8.定制化的專用界面針，減少探針接觸面造成的鍍層破壞、臟污使導(dǎo)通超差，界面針做到終生免維護(hù)。
9.自動(dòng)識(shí)別針床，當(dāng)上下針床不匹配時(shí)不下壓，防止針床不匹配壓壞針床。
10.各個(gè)運(yùn)動(dòng)都有監(jiān)控，增強(qiáng)系統(tǒng)安全性。
11.的設(shè)備與夾具對(duì)接方式，可實(shí)現(xiàn)夾具快速更換，大大降低換線時(shí)間。
12.增加夾具安裝導(dǎo)向，搬運(yùn)夾具更方便、省力，為重型夾具實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化搬運(yùn)、安裝奠定了基礎(chǔ)。
技術(shù)指標(biāo)：
開路/短路
• 測試方法：單點(diǎn)對(duì)多點(diǎn)
• 編程方法：自動(dòng)學(xué)習(xí)
• 測試閥值： 5Ω～20Ω～80Ω(默認(rèn)) 可自定義門限5～1KΩ
• 測試電流 ： ≤10mA
• 測試速度： 1024點(diǎn)/s （全開路）
• 可設(shè)定閥值個(gè)數(shù)：8
測試點(diǎn)數(shù)
• 標(biāo) 準(zhǔn)：1024 點(diǎn)
• 點(diǎn)數(shù)：4096
• 開關(guān)板：256點(diǎn)/塊
元器件測試
• 測試電壓：－10V～＋10V
• 測試電流：0.1uA～100mA
電阻
• 測 試 范 圍：0.1～40M
• 激 勵(lì) 電 壓: 0～5V(可 編 程)
• 激 勵(lì) 電 流：0.1uA～10mA
精度為電阻元件獨(dú)立測試下的精度值，計(jì)算精度應(yīng)先減去測試系統(tǒng)導(dǎo)線電阻。
兩針法測量：
| 測試范圍 | 精度 | 測試時(shí)間 |
| <100Ω | ±(1%+1) | 4 ms |
| 100Ω~ 500KΩ | ±1％ | 5 ms |
| 500KΩ~5MΩ | ±2％ | 5~20ms |
| 5MΩ~ 40MΩ | ±4％ | 20~30ms |
四針法測量：
| 測試范圍 | 精度 | 測試時(shí)間 |
| <1Ω | 分辨到10mΩ | 10ms |
| 1Ω ~1KΩ | ±1% | 10ms |
電容測試
• 測試范圍：5pF～40mF
• 激勵(lì)電壓：100mV～10V(可編程)
• 激勵(lì)頻率：10HZ～1MHz
• 激勵(lì)電流：0.01uA～50mA
• 精度為電容元件獨(dú)立測試下的精度值，計(jì)算精度時(shí)應(yīng)先減去系統(tǒng)分布電容
| 測試范圍 | 精度 | 測試時(shí)間 |
| 5p ~1nF | ±（3%+0.5p） | 5 ms |
| 1nF ~ 1uF | ±2% | 5 ms |
| 1uF ~ 1mF | ±2% | 15 ms |
| 1mF ~40mF | ±3% | 20 ms |
跳線：1Ω-1kΩ可設(shè)定（精度同電阻）
PN結(jié)正向?qū)ㄌ匦裕?～5 V
二 極 管：PN結(jié)曲線測試、正反向壓降測試、多PN并聯(lián)
穩(wěn) 壓 管：0～18V
晶體管導(dǎo)通測試：250mV～10V 激勵(lì)電流10mA
晶體管β值測試：β值 1～1000，≤10mA驅(qū)動(dòng)電流（非網(wǎng)絡(luò)環(huán)境），精度±5%
多管腳器件：光電藕合器、場效應(yīng)管、可控硅、電位器、繼電器、接插件等 驅(qū)動(dòng)電流0～10mA 驅(qū)動(dòng)電壓0～10V
電容極性：三針測量，金屬外殼， 1uF～40mF
變壓器：匝數(shù)比，精度3%
電壓感應(yīng)測試：IC管腳開路
自動(dòng)放電功能：所有設(shè)定的電容測試步針對(duì)及自定義針點(diǎn)對(duì)恒流放電，全板放電，電壓小于10V
供電：標(biāo)配：0-60V/3A/180W*2，0-6V/3A/15W*1?？蓴U(kuò)展路數(shù)：9路，可根據(jù)需求隨意選配電源。
電壓測量;測量范圍：-100～100,精度±0.5%+10mv
頻率測量;1Hz～50MHz,精度±0.01% + 5Hz；50MHz～100MHz，精度±0.1% + 10Hz；路數(shù)：16路單點(diǎn)對(duì)地
燒錄：JTAG、IIC、SPI燒錄
短接：路數(shù)：16；短接方式：每個(gè)可對(duì)地（公共端）短接、亦可每對(duì)兩點(diǎn)間短接
數(shù)字電路測試：
單板通道數(shù)：64，每位數(shù)字量均有一個(gè)輸出、一個(gè)輸入；
輸入電平電壓范圍：-1V~5.5V；
輸出高電平電壓范圍：2.5V~5.5V；
輸出低電平電壓范圍：-1V~2V；
單通道輸出承載能力：200ma，單組電流承載能力：1A；
輸入電平閥值電壓范圍：1~4V；
工作頻率：2M；
電壓上升率：400V/us；
單機(jī)芯DS數(shù)：1024；
輸出高低電平：64位一組。
