產(chǎn)品詳情：
1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
第四代同步加速器的技術(shù)：
EIGER2 X/XE CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，且對(duì)能量到達(dá)100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死時(shí)間為零，所以每幀之間不會(huì)丟失光子。兩個(gè)可調(diào)的能量閾值可以同時(shí)區(qū)分熒光背景（低能閾值）并且測(cè)量高次諧波的影響（高能閾值）。計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測(cè)器性能優(yōu)異且易于集成和操作。
2、核心優(yōu)勢(shì)：
– 高量子效率范圍達(dá)100KeV
– 無(wú)圖像延遲或余輝
– 計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素
– 雙能量閾值
– 電子門控觸發(fā)
– 有效面積大
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對(duì)分布函數(shù)
| 型號(hào) | EIGER2 X CdTe 500K | EIGER2 X CdTe 1M | EIGER2 X CdTe 4M | EIGER2 X CdTe 9M | EIGER2 X CdTe 16M | EIGER2 XE CdTe 9M | EIGER2 XE CdTe 16M |
| 有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
| 總像素?cái)?shù)量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 |
| 間隙寬度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
| 幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
| 計(jì)數(shù)器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
| 讀出時(shí)間 | 連續(xù)讀數(shù) | ||||||
| 點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel | ||||||
| 傳感器材料 | CdTe | ||||||
| 傳感器厚度 [μm] | 750 | ||||||
| 能量范圍 [keV] | 8-100 | ||||||
| 計(jì)數(shù)率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
| 尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
| 重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
| 冷卻方式 | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） | 水冷（模塊）/風(fēng)冷（電子學(xué)） |
