產(chǎn)品特點(diǎn):
HL-4060可多指測(cè)試,具有點(diǎn)擊測(cè)試,及直線、斜線、弧線、圓等劃線,及斷線、線性、Jitter、Accuracy、Hover、Report Rate及雙指最短距離等測(cè)試功能,并提供標(biāo)準(zhǔn)路徑、任意路徑及XeoVM路徑等三種劃線功能,以滿(mǎn)足各種劃線測(cè)試需求,同時(shí)也提供AOI光學(xué)影像自動(dòng)對(duì)位功能,以解決觸控面板測(cè)試時(shí)放置位置偏移的問(wèn)題,可連接HID、SPI及I2C等不同介面的觸控面板測(cè)試使用,并提供I2C X-Y座標(biāo)資料讀取API軟體介面,使用者可以使用Basic語(yǔ)言編寫(xiě)讀取程式,解決不同I2C X-Y座標(biāo)資料格式的問(wèn)題,具有Datalog功能,可記錄觸控面板及線測(cè)機(jī)測(cè)試時(shí)的X-Y座標(biāo)資料,可作為工程驗(yàn)證分析使用及生產(chǎn)品質(zhì)管理使用。
產(chǎn)品主要功能:
適用于電阻式、電容式、光學(xué)式及聲波式(SAW)等各種觸控面板測(cè)試使用。
可測(cè)試的觸控面板尺寸為:600(L)mm x 400(W)mm。
可雙指雙動(dòng)測(cè)試。
具有點(diǎn)擊及點(diǎn)擊測(cè)試等功能,點(diǎn)擊速度為每秒五次。
提供直線、斜線、弧線、圓、同心圓及Zoom In/Out等劃線功能,及具有圓弧補(bǔ)間功能。
提供觸控面板直線、斜線、弧線、圓、同心圓及Zoom In/Out等劃線時(shí)的斷線、線性等測(cè)試功能。
提供Jitter、Accuracy、Hover、Report Rate及雙指最短距離等測(cè)試功能。
提供標(biāo)準(zhǔn)路徑、任意路徑及XeoVM路徑等三種劃線路徑功能。
標(biāo)準(zhǔn)路徑劃線功能,提供業(yè)界各種常用或標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試劃線路徑,例如:圓形、波浪形及螺旋形。
任意路徑劃線功能,提供劃線路徑編輯工具,使用者可以自行編輯任意測(cè)試劃線路徑。
XeoVM劃線功能,提供線測(cè)機(jī)劃線路徑API軟體介面,使用者可以使用Visual Basic或C++語(yǔ)言,自行編寫(xiě)測(cè)試劃線路徑。
提供AOI光學(xué)影像自動(dòng)對(duì)位功能,線測(cè)機(jī)會(huì)自動(dòng)對(duì)位觸控面板測(cè)試放置位置。
利用AOI光學(xué)影像定位功能,精確地定位及記錄各指探測(cè)頭的測(cè)試座標(biāo)位置。
可連接HID、SPI及I2C等不同介面的觸控面板測(cè)試使用。
提供I2C訊號(hào)電位轉(zhuǎn)換功能,可連接1.5/1.8/2.5/3.0/3.3/5.0V各種電位Sensor IC。
提供觸控面板I2C/SPI介面轉(zhuǎn)換成USB介面的功能,I2C傳輸速度為:400Kdps,SPI傳輸速度為:8Mdps。
提供I2C/SPI Protocol Analyzer采取觸控面板I2C/SPI的Raw Data,I2C采取速度為:4Mhz,SPI采取速度為:24Mhz。
提供I2C X-Y座標(biāo)Basic Script Interpreter功能,使用者只要使用Basic語(yǔ)言編寫(xiě)I2C X-Y座標(biāo)程式,就可以讀取不同Sensor IC的I2C X-Y座標(biāo)資料。
提供HID、SPI及I2C等不同介面的觸控面板及線測(cè)機(jī)X-Y座標(biāo)資料的API軟體介面,使用者可自行開(kāi)發(fā)測(cè)試程式使用。
具有Datalog功能,可記錄觸控面板及線測(cè)機(jī)多指測(cè)試時(shí)的X-Y座標(biāo)資料,作為工程驗(yàn)證分析及生產(chǎn)管理使用。
填表式中文視窗使用者介面,讓機(jī)臺(tái)測(cè)試功能設(shè)定更簡(jiǎn)單,生產(chǎn)操作更容易。
提供量產(chǎn)測(cè)試統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能,可作為生產(chǎn)品質(zhì)管理使用。
線測(cè)機(jī)模組化設(shè)計(jì),機(jī)臺(tái)功能提昇及維修十分容易及快速。
各軸采用伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng),X-Y-Z軸傳動(dòng)速度可到達(dá):500mm/Sec.。
X-Y-Z軸採(cǎi)用滾珠螺桿傳動(dòng),各軸重復(fù)精度可到達(dá):+/-0.02mm。
X-Y軸組合採(cǎi)用三角設(shè)計(jì)方式,可降低高速劃線測(cè)試的搖晃及偏移問(wèn)題。
雙指探測(cè)頭的最短測(cè)試距離為2mm。
提供萬(wàn)用固定平臺(tái)或真空吸附平臺(tái),適合各種觸控面板測(cè)試固定使用。
可提供不同材質(zhì)及直徑的探測(cè)頭及各種重量的砝碼,作為測(cè)試使用。