分段存儲(chǔ)

40 Msample（標(biāo)配）；80 Msample（交織模式）

R&S®RTM3000 提供同級(jí)別中*的存儲(chǔ)深度：每個(gè)通道的存儲(chǔ)深度達(dá)到 40 Msample，在交織模式下存儲(chǔ)深度可達(dá) 80 Msample。這比同類儀器中的示波器高出八倍。用戶甚至可以在高采樣率下（例如在分析開關(guān)電源的瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)）捕獲更長(zhǎng)的采集序列，以便獲得更詳細(xì)的分析結(jié)果。

全帶寬下采集更多時(shí)長(zhǎng)

分段存儲(chǔ)：400 Msample，帶歷史功能

R&S®RTM-K15 選件帶有深存儲(chǔ)、分段存儲(chǔ)功能，能分析較長(zhǎng)觀測(cè)時(shí)間的信號(hào)序列?？梢栽趲酌牖驇追昼妰?nèi)捕獲有通信間隔的協(xié)議信號(hào)（例如 I2C 或 SPI）。由于分段長(zhǎng)度可調(diào)，因此 400 Msample 的存儲(chǔ)深度能得到利用。在歷史模式下，可以調(diào)用 400 Msample分段存儲(chǔ)深度內(nèi)的所有采集波形并分析。

使用 MSO 選件進(jìn)行邏輯分析

16 個(gè)附加數(shù)字通道

使用 R&S®RTM-B1 選件，每臺(tái) R&S®RTM3000 都可以轉(zhuǎn)變?yōu)榫哂?16 個(gè)附加數(shù)字通道、直觀易用的 MSO。該示波器能同時(shí)捕獲和分析嵌入式設(shè)計(jì)的模擬和數(shù)字信號(hào)。例如，我們可以使用光標(biāo)測(cè)量很方便地確定模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入輸出之間的延遲。

波形發(fā)生器和碼型發(fā)生器

生成模擬和數(shù)字激勵(lì)

R&S®RTM-B6 波形發(fā)生器和碼型發(fā)生器的數(shù)據(jù)傳輸率達(dá) 50 Mbit/s，適用于教育領(lǐng)域以及開發(fā)硬件。除了常見的正弦波、方波/脈沖波、鋸齒波和噪聲波形外，此發(fā)生器還可輸出任意波形以及 4 位信號(hào)碼型。波形和碼型能夠以 CSV 文件格式導(dǎo)入，也可以從示波器顯示波形中復(fù)制?？墒褂妙A(yù)定義碼型，比如 I2C、SPI、UART 以及 CAN/LIN。

數(shù)字電壓表

測(cè)量并顯示電勢(shì)

R&S®RTM3000 在每個(gè)通道上設(shè)有三位電壓表 (DVM) 和六位頻率計(jì)，可實(shí)現(xiàn)同步測(cè)量。標(biāo)配測(cè)量功能包括 DC、AC + DC (RMS) 和 AC (RMS)。

頻譜分析模式

有些故障難以察覺，這通常是因?yàn)闀r(shí)頻域信號(hào)之間的相互作用。只要按下按鈕，輸入中心頻率和頻率范圍，即可激活 R&S®RTM3000 的 FFT 功能。R&S®RTM3000 示波器具有強(qiáng)大的 FFT 功能，可分析最長(zhǎng)達(dá) 128 kpoints 的信號(hào)。其他實(shí)用功能包括光標(biāo)測(cè)量和頻域自動(dòng)設(shè)置

。

模板測(cè)試模式

模板測(cè)試能快速顯示特定信號(hào)是否在規(guī)定的容差范圍內(nèi)。模板使用合格/不合格評(píng)估統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，評(píng)估被測(cè)設(shè)備 (DUT) 的質(zhì)量和穩(wěn)定性，并且快速確定信號(hào)異常和非預(yù)期結(jié)果。當(dāng)模板被違規(guī)時(shí)，測(cè)量停止。R&S®RTM3000 的 AUX-OUT 連接器將在每次模板違規(guī)時(shí)生成一次脈沖輸出。此脈沖輸出可用于觸發(fā)測(cè)量設(shè)置中的操作。

電源應(yīng)用的理想之選

分辨率高達(dá) 10 位，輕松查看電源信號(hào)細(xì)節(jié)

電源測(cè)量中，高動(dòng)態(tài)信號(hào)的最微小細(xì)節(jié)也至關(guān)重要。比如驗(yàn)證 MOSFET 的 RDS(on)。R&S®RTM3000 示波器具備出色的 ADC 分辨率，可將垂直分辨率提升至 10 位。以前無法查看的信號(hào)細(xì)節(jié)變得清晰可見并可測(cè)量。因此在驗(yàn)證 RDS(on) 時(shí)，可以在開關(guān)關(guān)閉的狀態(tài)下測(cè)量漏源極電壓的斜率。