OFDR-FSC100是自主研發(fā)的基于光頻域反射(OFDR)原理的背光反射儀,主要用于光無源器件測試,可用于光子芯片在片級、封裝、集成等檢測環(huán)節(jié)對其傳輸損耗進行測量,具有超高的損耗測試動態(tài)范圍和靈敏度,超高的空間分辨率和損耗定位精度,只需單次掃描即可獲得光纖鏈路各點的分布式回波損耗(RL)和插入損耗(IL)。
該系統(tǒng)亦可選配光纖傳感功能軟件,從而使該系統(tǒng)實現(xiàn)多通道同時采集、分布式光纖應變及溫度測量功能。
產(chǎn)品特點:
損耗測試功能
測試長度最長50m
空間分辨率高達20um
回損測試靈敏度可達-130dB
回損測試動態(tài)范圍80dB
揑損測試動態(tài)范圍15dB
可提供全套硬、軟件解決方案
傳感測試功能
測試長度最長100m
空間分辨率可達1mm@50m
可提供全套硬、軟件解決方案
典型應用:
光子芯片傳輸損耗測量
芯片內損耗事件定位分析
光組件內部光鏈路損耗分析
芯片內光鏈路延時測量
分布式光纖應變、溫度傳感
3D光纖形狀傳感系統(tǒng)研發(fā)
產(chǎn)品參數(shù):
技術指標 | 單位 | TranCT-215 |
損耗測試功能 | ||
中心波長 | nm | 1550 |
掃描范圍 | nm | 40 |
波長精度 | pm | 0.1 |
光鏈路測試長度 | m | 50 |
空間分辨率 | um | 20 |
回損測試范圍 | dB | 0~-125 |
回損靈敏度 | dB | -130 |
回損動態(tài)范圍 | dB | 80 |
回損測量分辨率 | dB | 0.1 |
回損測量精度 | dB | ±0.5 |
插損動態(tài)范圍 | dB | 15 |
插損分辨率 | dB | 0.1 |
插損精度 | dB | ±0.2 |
測試頻率 | Hz | 1 |
傳感功能 | ||
空間分辨率 | mm | 1@50m,10@100m |
應變測量范圍 | u? | ±15000 |
應變測量精度 | u? | ±5 |
溫度測量范圍 | ℃ | -200~1200 |
溫度測量精度 | ℃ | ±0.2 |
測試通道數(shù) | - | 標準1,可定制 |
單次測試時間 | s | 5 |