一.產(chǎn)品概述
全新架構(gòu)，更高精度
SNA6034A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用了全新的內(nèi)部架構(gòu)，具備更加強大的數(shù)據(jù)處理能力，響應(yīng)速度更快，能輕松實現(xiàn)4端口S參數(shù)測量，差分（平衡）測量，時域測量、帶寬、Q值等一鍵測量。并且其動態(tài)范圍高達135dB，有著極低的相位噪聲，可以幫助工程師在苛刻的測試場景下仍獲得準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果。
電子校準(zhǔn)件-讓校準(zhǔn)一步到位
鼎陽科技SEM5000A系列電子校準(zhǔn)件，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適用于鼎陽所有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，能幫助工程師解決使用傳統(tǒng)機械校準(zhǔn)件耗時久、誤差大、操作繁瑣等問題。電子校準(zhǔn)件大幅縮減了校準(zhǔn)步驟，減少了連接器的損耗，保證了校準(zhǔn)精度，極大的節(jié)省了校準(zhǔn)所需時間，為多端口測試和產(chǎn)線測試提供了極大便利。
開關(guān)矩陣-輕松實現(xiàn)多端口器件測試需求
開關(guān)矩陣能讓多端口器件測試的連線變得簡單，并且也是自動測試系統(tǒng)的重要組成部分，起著控制信號流向的作用。鼎陽科技SSM5000A系列射頻開關(guān)矩陣，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適配鼎陽科技所有矢網(wǎng)產(chǎn)品，單臺可將輸出端口擴展至24個，還可繼續(xù)疊加。與傳統(tǒng)測量方式相比，使用射頻開關(guān)矩陣測量速度大大提升，可以幫助工程師輕松實現(xiàn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和多端口被測物的連接與測試，也極大的適配了生產(chǎn)線使用場景。
開關(guān)矩陣-輕松實現(xiàn)多端口器件測試需求
開關(guān)矩陣能讓多端口器件測試的連線變得簡單，并且也是自動測試系統(tǒng)的重要組成部分，起著控制信號流向的作用。鼎陽科技SSM5000A系列射頻開關(guān)矩陣，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適配鼎陽科技所有矢網(wǎng)產(chǎn)品，單臺可將輸出端口擴展至24個，還可繼續(xù)疊加。與傳統(tǒng)測量方式相比，使用射頻開關(guān)矩陣測量速度大大提升，可以幫助工程師輕松實現(xiàn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和多端口被測物的連接與測試，也極大的適配了生產(chǎn)線使用場景。
機械開關(guān)-頻率高達50GHz
為滿足微波、毫米波系統(tǒng)多通道多端口測試需求，鼎陽科技推出頻率高達50GHz的SSU5000A系列機械開關(guān)。含有1-4個相互獨立、帶有SMA或2.4mm連接器的單刀雙擲機械開關(guān)，支持TTL電平控制，可廣泛應(yīng)用在多通道多端口測試環(huán)境上。
混頻器測量
混頻器是微波毫米波系統(tǒng)的重要部件，其特性的好壞直接影響設(shè)備或儀器的性能。在混頻器研發(fā)生產(chǎn)的各個階段，都需要對其性能指標(biāo)進行測量。
傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀只有雙端口，內(nèi)置1個信號源，需要利用外部信號源提供本振信號才能測量混頻器，不僅操作繁瑣，測量速度慢且誤差很大。而鼎陽SNA6034A系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擁有4個端口，內(nèi)置兩個獨立信號源，無需外部信號源和控制器即可直接測量混頻器的變頻損耗。
傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀只有雙端口，內(nèi)置1個信號源，需要利用外部信號源提供本振信號才能測量混頻器，不僅操作繁瑣，測量速度慢且誤差很大。而鼎陽SNA6034A系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擁有4個端口，內(nèi)置兩個獨立信號源，無需外部信號源和控制器即可直接測量混頻器的變頻損耗。
脈沖測量功能
SNA6034A內(nèi)置脈沖調(diào)制器和脈沖發(fā)生器應(yīng)用于測試諸如功率晶體管之類的大功率被測器件，以及需要工作在脈沖模式下的模塊。連續(xù)波激勵所積累的熱量可能會損壞被測器件，而使用脈沖激勵進行測量可以安全地對這類器件的特性進行表征，同時也支持控制外部脈沖生成器和調(diào)制器，與外部主脈沖保持同步。
增強時域分析功能TDR
SNA6034A 支持高級時域分析功能（TDR），可精確測量傳輸線的特征阻抗，并幫助定位斷點或短路點的具體位置。此外，SNA6034A的 TDR 功能還可通過內(nèi)部仿真生成眼圖，無需額外的碼型發(fā)生器，即可高效完成波形一致性測試。利用眼圖功能可以更直觀地分析信號傳輸中的噪聲、抖動、碼間串?dāng)_等問題。TDR 功能可廣泛應(yīng)用于 PCB 板阻抗測試，材料性能測試，傳輸線質(zhì)量測試中。
