- 靈敏度更高
- 采集速度更快
通訊方式更多
產(chǎn)品介紹
全新的FX系列，使用CMOS探測器有效提高靈敏度。每秒4500張的圖譜獲得速度，以及強(qiáng)化的模塊通訊集成了以太網(wǎng)以及WiFi，全新的光譜儀在UV-VIS波段響應(yīng)更加靈敏，更快的分析速度在食品的分類揀選及流程、生物科學(xué)等行業(yè)表現(xiàn)更加優(yōu)秀。
產(chǎn)品特征及優(yōu)勢
| 特征 | 優(yōu)勢 | 應(yīng)用 |
| CMOS 檢測器 | 光譜覆蓋200-1100nm 而且在UV段靈敏度更高 | ? 生物醫(yī)學(xué)（比如：DNA檢測） ? UV段氣體檢測 |
| 高速度采集 | 更短時(shí)間、更快速度獲取光譜 | ? 食品篩選與過程監(jiān)控 ? 動(dòng)力學(xué)檢測 ? 激光器檢測（脈沖模式） ? 高強(qiáng)度等離子體檢測 ? 瞬時(shí)采集 ? 產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的監(jiān)測和質(zhì)量控制 |
| 積分時(shí)間最小10μs | ||
| 緩存和時(shí)間戳 | 板載50，000張光譜緩存 確保整個(gè)動(dòng)力學(xué)測試過程不會(huì)丟失數(shù)據(jù) | ? 細(xì)胞中酶反應(yīng)化學(xué)動(dòng)力學(xué) ? 藥物合成中的反應(yīng)動(dòng)力學(xué) |
| 多通訊模式 | 以太網(wǎng)，Wi-Fi，Type-C多通訊模式 | ? 遠(yuǎn)程監(jiān)控 ? 手持化設(shè)備 ? 過程應(yīng)用 |
產(chǎn)品參數(shù)
| 光譜范圍 | 200-1100nm（可在該范圍內(nèi)進(jìn)行配置） |
| 可選配置 | UV-Vis (200-850 nm) w/25 μm slit |
| Vis-NIR (350-1000 nm) w/25 μm slit | |
| 寬光譜范圍(200-1025 nm) w/25 μm slit | |
| 光學(xué)分辨率 | 0.8nm(FWHM)，基于配置:600刻線光柵以及5μm狹縫 |
| SNR（單次掃描） | ~300:1 |
| 動(dòng)態(tài)范圍（單次掃描） | ~6400:1 |
| 積分時(shí)間 | 10 μs-10 s |
| 掃描速度（） | 4500 scans/s* 掃描速度取決于很多因素，包括計(jì)算機(jī)硬件的性能以及操作系統(tǒng)的區(qū)別。 |
| 熱穩(wěn)定性 | 0.11 pixels/℃ |
| 狹縫 | 5,10,50,100 或 200μm狹縫 |
| SMA 905 或 FC |
更多應(yīng)用方案
LIBS 光譜：
LIBS系統(tǒng)中，激光器用來激發(fā)樣品產(chǎn)生等離子體，光譜儀獲取的原子發(fā)射譜線可以判定樣品的物質(zhì)組成成分。由于等離子體的生命周期很短，激光激發(fā)樣品的時(shí)間也很短，所以需要使用更短積分時(shí)間的光譜儀來收集等離子體的主要光譜信息。
快速測量：
快速獲取的光譜可以觀察火花、爆炸物、炮火等的特征信息，包括組成和溫度信息等。通過同步觸發(fā)，可以監(jiān)測同一反應(yīng)或者同一物質(zhì)不同時(shí)間的不同信息。
- 生產(chǎn)線在線監(jiān)測：
對在線生產(chǎn)中的產(chǎn)品或者整個(gè)生產(chǎn)過程進(jìn)行監(jiān)控，由于整個(gè)過程非常迅速，另外可檢測點(diǎn)又是特定的，所以檢測儀器就需要極快的光譜的響應(yīng)時(shí)間。生產(chǎn)過程中進(jìn)行同步測量非常有利于對整個(gè)過程進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
- LED 分選:
LEDs在生產(chǎn)過程中通過CWL，F(xiàn)WHM，或者CIE顏色值差異進(jìn)行分選，整個(gè)分選過程速度非?？?，而顏色作為白光LED分選的主要判斷指標(biāo)，另外還因?yàn)榘坠釲ED的ΔE值也相對比較小，所以就需要檢測的設(shè)備有更高的靈敏度和更短的時(shí)間獲得更穩(wěn)定的光譜數(shù)據(jù)。
- 激光：
盡管使用光譜儀對激光進(jìn)行檢測很大可能出現(xiàn)飽和現(xiàn)象，但是我們還是要檢測激光指標(biāo)CWL和FWHM。如果需要檢測FWHM，必須要確保光譜儀的分辨率要低于激光的FWHM。即使光譜儀的分辨率寬于待檢測的激光線寬，只要檢測器不飽和，CWL的值還是準(zhǔn)確的。
- 光發(fā)射光譜 (OES)：
發(fā)射光譜測試一般會(huì)用在科研、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，被檢測的樣品一般被氣化并表現(xiàn)為原子形式，這些離子化的原子產(chǎn)生的發(fā)射譜線可以用來表征物質(zhì)成分。我們的OEM客戶使用該方法對水中的痕量金屬進(jìn)行檢測，同時(shí)也有其他客戶使用該方法對工業(yè)用油進(jìn)行檢測。
- 等離子體監(jiān)控：
等離子體的發(fā)射譜線可以用來評估等離子體的狀態(tài)或者消亡過程。
- 激光焊接/沉積：
可以通過等離子體的發(fā)射譜線對激光焊接/沉積過程中的溫度及其他參數(shù)，從而監(jiān)控整個(gè)焊接過程。
