柳沁科技—冷熱沖擊控制試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)ji高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。
滿足標(biāo)準(zhǔn):
.GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
柳沁科技—冷熱沖擊控制試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)舉例:
一、產(chǎn)品名稱 | 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 | ||
1.1型號 1.2設(shè)備容積 1.3內(nèi)箱尺寸約 1.4外型尺寸約 | LQ-2TS-150B 150L W 50x H 60 x D 50cm (寬 x高 x深) 以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn) | ||
二、參數(shù)性能 | |||
2.1使用環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+28℃、相對濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下 | ||
2.3溫度使用范圍 | -55℃~+150℃ | ||
2.4蓄熱溫度范圍 | RT~+165℃ | ||
2.5蓄冷溫度范圍 | RT~-70℃ | ||
2.6蓄熱升溫時間 | +20℃ → +165℃≤40分鐘 | ||
2.7蓄冷降溫時間 | +20℃ → -70℃≤約90min | ||
2.8溫度波動度 | 溫度≤±0.5℃(溫度波動度為中心點(diǎn)實(shí)測高溫度和低溫度之差的一半) | ||
2.9溫度均勻度 | ≤±2℃溫度均勻度為每次測試中實(shí)測高和低溫度之差的算術(shù)平均值) | ||
2.10控制精度 | 溫度:≤±0.2℃(指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測值之差) | ||
2.11溫度解析精度 | 0.01℃ (即是溫度范圍可以解析精確到小數(shù)點(diǎn)后面的兩位數(shù)) | ||
2.12溫度轉(zhuǎn)換時間 | 10秒種內(nèi)完成 | ||
2.13溫度恢復(fù)時間 | ≤5min | ||
2.14滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) | GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low temperature test GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature change QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等 |