STJ X-ray譜儀（超導(dǎo)隧道結(jié)X射線譜儀）
STJ X-ray是專用于軟X射線束探測(cè)的無液氦超導(dǎo)隧道結(jié)X射線譜儀，具有高能量分辨和高計(jì)數(shù)率等優(yōu)點(diǎn)。
STJ X-ray射線譜儀
概述：
超導(dǎo)隧道結(jié)（STJ）X-射線譜儀由美國(guó)STAR Cryoelectronics 公司專門為同步輻射研究領(lǐng)域開發(fā)的一款高性能低溫探測(cè)系統(tǒng)。優(yōu)化設(shè)計(jì)的STJ探測(cè)器既適合作為紫外-軟X射線波段范圍（50eV-3keV）熒光產(chǎn)率吸收譜（PFY-XAS）用探測(cè)器，也適合作為同步輻射裝置的高光子通量探測(cè)器。在525eV處的能量分辨率（峰半高寬）優(yōu)于10eV，每像素每秒計(jì)數(shù)超過1萬次。STJ探測(cè)器比傳統(tǒng)固態(tài)探測(cè)器（例如HPGe）和硅漂移探測(cè)器的分辨率高10倍，并保持高量子效率和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn)，與其它低溫探測(cè)器相比，STJ探測(cè)器使用更簡(jiǎn)單也更穩(wěn)定，非常適合作為高光子通量同步加速器裝置的X射線探測(cè)器來使用。
性能參數(shù)
與傳統(tǒng)固態(tài)探測(cè)器相比，STJ探測(cè)器能量分辨率優(yōu)于10eV，能夠分辨出大多數(shù)傳統(tǒng)固體探測(cè)器無法辨識(shí)的近鄰峰。利用STJ探測(cè)器可清晰地分辨出Mn和Fe 的L峰位于F的k峰（677eV）的兩側(cè)，能夠?qū)⒉煌氐臒晒猱a(chǎn)率吸收譜從弱背景中提取出來。STJ探測(cè)器也可將V、Cr、Ti的 L峰從O的K峰位分辨出來，W和Ta的M峰從Si的K峰位中分辨出來。
在每像素每秒計(jì)數(shù)率在2,000次以內(nèi)時(shí)，STJ保持高能量分辨率地特點(diǎn)，即使計(jì)數(shù)率超過10,000次，STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。
通過32-Pixel STJ探測(cè)器采集的多元素樣品的單像素譜
集成STJ探測(cè)器的DRC-100 ADR恒溫器全部操作由計(jì)算機(jī)程控。與其它類型低溫探測(cè)器不同，STJ探測(cè)器的工作溫度只需要低于250mK閥值溫度即可。帶微型snout的ADR恒溫器在200mK的工作溫度下可保持60小時(shí)，再生循環(huán)過程僅需1.5小時(shí)。三層紅外濾光片能夠消除室溫輻射芯片，且1keV以上X射線透射率超過90%。也可根據(jù)需求提供允許低能射線通過濾光片，不過ADR恒溫器的低溫保持時(shí)間將會(huì)縮短。
配置
根據(jù)實(shí)驗(yàn)的不同，提供標(biāo)準(zhǔn)型和微型兩種STJ X-ray探測(cè)器系統(tǒng)。標(biāo)準(zhǔn)型STJ X-ray探測(cè)器系統(tǒng)帶一個(gè)42cm長(zhǎng)72mm粗的冷指，冷指末端端面上安裝一個(gè)112像素芯片，冷指可伸入分析室使得探測(cè)器距離樣品僅1cm，每個(gè)像素的有效探測(cè)面積為0.2mm*0.2mm，總有效探測(cè)元面積為4.48mm2。
標(biāo)準(zhǔn)型STJ X-ray探測(cè)器恒溫器
（帶112個(gè)探測(cè)器陣列，總有效探測(cè)元面積為4.48mm2）
微型STJ X-ray系統(tǒng)是針對(duì)空間受限的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，提供32mm粗的snout、32個(gè)探測(cè)器陣列和一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)2.75”刀口法蘭。
這兩種STJ X-ray恒溫器系統(tǒng)帶標(biāo)準(zhǔn)6”或者2.75”刀口法蘭，與用戶實(shí)驗(yàn)腔公用同一真空，故無需提供X射線真空密封窗口。探測(cè)器安裝在行程為32cm的線性滑軌上，允許探測(cè)器從樣品腔撤出并通過插板閥隔離。法蘭中心到下面線性滑軌底部距離有33cm的標(biāo)準(zhǔn)高度和22.6cm較矮型兩種。
微型STJ X-ray探測(cè)器恒溫器
