產品介紹
描述
SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路結構的高分辨率光譜儀。結合創(chuàng)新型的光學器件設計，SR-750配合Andor 公司的各型高性能光譜專用CCD/ICCD，可以非常方便進行空間多點光譜的同時采集與測量。SR-750可以配用多種附件，拓展應用領域，在透射/反射/吸收光譜、Raman光譜、熒光光譜、激光誘導解離光譜等實驗中，提供良好的系統(tǒng)解決方案。
特點
分辨率可高達0.02nm
出廠預校準，開箱即可使用
多路光譜優(yōu)化光路，低串擾，高密度多路光譜探測
USB2.0 接口，即插即用
針對每臺譜儀記錄三光柵塔輪信息，便于以后光柵升級
雙探測器出口選項，可安裝不同類型探測器滿足不同實驗需求
多樣化的附件選擇
支持單點探測器，波長可高達12um
光學元件鍍銀選項，保證紅外探測器更好的性能
技術參數(shù)
焦距長度 750mm
通光孔徑 f/9.7
焦平面尺寸 28mmX14mm
光譜分辨率 0.02nm @ 2400 l/mm @ 300 nm
波長重復性 10pm
光柵尺寸 68mmX68mm
外形尺寸 860X393X213.5
重量 35Kg
