產(chǎn)品介紹
FT測(cè)試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測(cè)量）
FT測(cè)試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測(cè)量）
FT測(cè)試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測(cè)量）
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路（核心）的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此，測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
FT是一個(gè)完備的測(cè)試系統(tǒng)，它產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來(lái)控制被測(cè)紅外焦平面；最后對(duì)被測(cè)紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進(jìn)行表征所需的輸出信號(hào)進(jìn)行半自動(dòng)分析。
該系統(tǒng)能夠測(cè)量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）?？蓽y(cè)試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測(cè)器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供，并針對(duì)不同測(cè)試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化，還可以選擇能夠測(cè)試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本。
FT測(cè)量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測(cè)量工作站：FT-N，F(xiàn)T-I，和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測(cè)量；
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測(cè)量
3.FT-S——光譜參數(shù)測(cè)量。
產(chǎn)品參數(shù)
紅外焦平面陣列的參數(shù)可分為三大類：
噪聲/靈敏度參數(shù)：
1.標(biāo)準(zhǔn)噪聲特性：NETD（高頻時(shí)間噪聲）、FPN（高頻空間噪聲）、不均勻性（低頻空間噪聲），
2.響應(yīng)參數(shù)：SiTF，線性，動(dòng)態(tài)范圍，飽和水平，
3.高級(jí)噪聲參數(shù)：3D噪聲模型、NPSD、1/f噪聲、壞像素?cái)?shù)和壞像素定位，
4.D*（歸一化探測(cè)率）和相關(guān)參數(shù)可選（需要知道FPA的積分時(shí)間）。
圖像質(zhì)量參數(shù)：
1.調(diào)制傳遞函數(shù)MTF，
2.能量損耗（PVF），
3.串?dāng)_。
光譜參數(shù)：
1. 相對(duì)光譜靈敏度（平均值、偏差、信號(hào)相關(guān)性）
FT測(cè)試系統(tǒng)可以以不同版本、不同測(cè)試能力和不同價(jià)格水平交付。
可使用下表所示的代碼精確確定版本。
A | B | |
編號(hào) | 測(cè)試能力 | 測(cè)試完整的熱像儀 |
1 | 噪聲/相應(yīng)參數(shù) | 否 |
2 | 成像參數(shù) | 是 |
3 | 光譜參數(shù) | |
4 | 噪聲相應(yīng)和成像參數(shù) | |
5 | 所有參數(shù) |
示例代碼：
代碼FT40–測(cè)量紅外焦平面?zhèn)鞲衅?攝像機(jī)芯的噪聲/響應(yīng)和成像參數(shù)的系統(tǒng)。不能測(cè)試完整的熱像儀。
代碼FT52-測(cè)量紅外焦平面?zhèn)鞲衅?攝像機(jī)核心的噪聲/響應(yīng)、成像和光譜參數(shù)的系統(tǒng)。能夠測(cè)試完整的熱像儀。
