顯微熔點(diǎn)測定儀介紹：
X4系列化顯微熔點(diǎn)測定儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、檢驗(yàn)；高等院校化學(xué)系等部門對單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程提供了有利的熔點(diǎn)測定裝置。
該儀器具有自動(dòng)控制溫度及無級調(diào)節(jié)熱臺升溫速度的功能，通過LED顯示溫度測量值。儀表顯示準(zhǔn)確、清晰、穩(wěn)定性好；控溫范圍寬，可靠性好，抗震性強(qiáng)。是新一代的熔點(diǎn)測定儀器。其顯微觀察部分采用雙目實(shí)體顯微鏡，視場大，工作距長，立體感強(qiáng)，長時(shí)間觀察，眼睛不易疲勞。觀察顯微鏡與熱臺控溫部分相互獨(dú)立，可分別使用。
X4-X5顯微熔點(diǎn)測定儀主要技術(shù)參數(shù)：
●放大倍數(shù) 20X、40X、80X
●雙數(shù)顯控溫：室溫-320℃
●工作距離 30-100mm
●測定量小于0.1mq
●測定準(zhǔn)確度：±1℃±0.5℃
●物方視場 φ100mm-φ3mm
測定誤差：，滿量程±0.5%
