德國全歐光學(xué)(TRIOPTICS)設(shè)計的ImageMaster® Universal可以測量幾乎所有類型
光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)。
產(chǎn)品特點
臥式結(jié)構(gòu),全自動測量
可測量直線構(gòu)型系統(tǒng)、L形構(gòu)型系統(tǒng)、U形構(gòu)型系統(tǒng)、空間折轉(zhuǎn)型系統(tǒng)等
模塊化設(shè)計、一體化運輸,維護(hù)保養(yǎng)方便
平行光管基于離軸拋物面反射鏡的設(shè)計,覆蓋全波段使用
整機(jī)配備鋁質(zhì)外殼,隔光擋風(fēng)
模塊化靶標(biāo)發(fā)生器及探測器,可快速切換
測量精度可溯源至國際標(biāo)準(zhǔn)
軟件模塊化,使用簡單易懂
可編輯腳本,實現(xiàn)用戶自定義測量
直接以報告形式輸岀結(jié)果
測量參數(shù)
軸上光學(xué)傳遞函數(shù)MTF 相對照度
軸外光學(xué)傳遞函數(shù)MTF 視場角
離焦光學(xué)傳遞函數(shù)MTF 畸變
有效焦距EFL 像散
相位傳遞函數(shù)PTF 色差
線擴(kuò)散函數(shù)LSF 焦深
點擴(kuò)散函數(shù)PSF 場曲
主光束角度 F數(shù)
相對透過率
技術(shù)指標(biāo)
系統(tǒng)配置 | 無限-有限共軛系統(tǒng)、有限-有限共軛系統(tǒng)、無焦系統(tǒng) |
光譜范圍 | UV(250...450nm)、VIS(450...700nm)、NIR(700...1000nm)、SWIR(1000...2500nm)、MWIR(3...5μm)、LWIR(7...13μm) |
樣品焦距范圍 | 5...2000mm(可擴(kuò)展) |
通光口徑 | 450mm(可擴(kuò)展) |
離軸角度 | ±120°(可擴(kuò)展至±180°) |
EFL測量精度 | ±0.3% |
MTF測量精度 | ±0.02MTF(軸上)、±0.03MTF(軸外) |
MTF測量重復(fù)性 | ±0.01MTF |
空間頻率 | UV(100lp/mm)、VIS~NIR(500lp/mm)、SWIR(120lp/mm)、MWIR(80lp/mm)、LWIR(60lp/mm) |
樣品承載重量 | 20kg |
測量方位角 | 360° |