實現(xiàn)測量自動化并提高效率！
半導體參數(shù)測量軟件 CS-810
以往很多項目都是分別通過手動操作一邊執(zhí)行設置一邊花費大量的時間執(zhí)行測量，而采用半導體參數(shù)測量軟件 CS-810的話，即可輕松且自動執(zhí)行測量，而且測量內(nèi)容也可作為依據(jù)保存。此外，如果事先設置閾值的話，還可實現(xiàn)自動測量。
導入好處
可編程，按測量步驟，切實且無遺漏地測量
支持數(shù)據(jù)存儲與調用。測量內(nèi)容也可作為依據(jù)保存
支持PASS/FAIL 可自動判定
選配件產(chǎn)品的控制也可實現(xiàn)自動化(例如：通過加熱板的溫度控制)
可大幅度提升高溫應用的效率
進行了實際對比(本公司對比)
使用相同試樣執(zhí)行自動測量(半導體參數(shù)測量軟件CS-810)時，與以往的手動測量進行了對比。
手動測量時間假設為嫻熟人員的操作時間。
通過安裝于PC的軟件選配件，經(jīng)由以太網(wǎng)控制曲線圖示儀或掃描儀、加熱板等。
通過簡單設置，即可通過曲線圖示儀自動測量迄今為止只能通過手動操作執(zhí)行的測量，由此提高作業(yè)效率。
無需編程知識
將手動測量的曲線圖示儀設置讀入PC后，任何人均可輕松完成設置，無需編程等知識。
自動測量(漏電流、飽和電壓、VF、Vth等)
測量結果窗口
波形比較功能
可將開發(fā)時的偏差或不良分析等與測量后保存的各種波形進行比較。同時還可通過波形比較進行良否判定。
波形比較與判定
可通過與參考數(shù)據(jù)的比較進行良否判定。
波形顯示
可同時在同一圖標上顯示和比較最多10個波形，波形包括以往獲取的CSV文件及曲線圖示儀的召回波形、當前獲取的波形。
重縮放功能
以任意間隔將所示波形的電保存為CSV文件。將測量結果制成表格時，可使電達到一致。
光標功能
所示波形的數(shù)值以一覽表方式顯示。 同時，采樣點以外的數(shù)值也可以插值方式顯示。
注釋顯示
可顯示、編輯、移動各波形的注釋。
圖表的圖像保存
可任意組合圖表、文件列表、光標值保存為圖像文件。
（圖像格式：PNG/BMP/JPG/TIFF）
多種圖表顯示
--可設置的項目--
圖表標題、圖表區(qū)域背景色、光標色、Line Dot(直線、點、直線和點)X軸、Y軸：軸標題、數(shù)據(jù)選擇(Ic/Vce/Vbe)、比例尺(Log/Linear)(Y軸)、刻度間隔(Auto,1-2-5Step)、刻度最小值、值、網(wǎng)格(顯示顏色、隱藏)
傳遞特性的自動測量功能
可通過曲線圖示儀自動測量傳遞特性。
特性曲線的文件保存
將測量的特性保存為CSV文件，并將圖表作為圖像數(shù)據(jù)保存為文件
※圖像格式：PNG/BMP/JPG/TIFF
光標功能
X軸、Y軸上顯示光標。以插值方式在測量數(shù)據(jù)之間顯示數(shù)值。
圖表區(qū)域的自定義
可自定義圖表的標題、軸標簽、背景色、軸范圍等。
設置的保存/讀取
可將特性測量的設置內(nèi)容、圖表區(qū)域的自定義設置內(nèi)容保存為文件和從文件中調用。
設備試驗
可在短時間內(nèi)切實執(zhí)行多臺設備試驗和記錄。
自動執(zhí)行多個測量項目。
操作人員只需按照彈窗信息提示更換設備、替換配線或根據(jù)需要輸入采樣名稱(搭載采樣名稱自動添加功能)，即可在相同條件下反復執(zhí)行測量。
判定結果按各測量分別顯示，并自動保存圖像和波形數(shù)據(jù)。
輸入采樣名稱后設置為測試臺
測量執(zhí)行過程中顯示測量值和判定結果
根據(jù)判定結果彈出暫停和作業(yè)指示
根據(jù)測量項目彈出暫停和作業(yè)指示
測量結束后，可將LOG文件導出為CSV或工作表格式。
測量時自動保存波形圖像和數(shù)據(jù)。
應力試驗日志另存為文件。
可從日志顯示畫面選擇測量結果后重新執(zhí)行測量。
模塊測量
與曲線圖示儀同時控制掃描系統(tǒng)。
還可控制各元件門極的開路/短路及HV/HC切換，無需拆除母線即可實現(xiàn)1個模塊的全自動測量。
執(zhí)行CS-810的設置時，在設置1個元件后，復制元件數(shù)量即可輕松完成設置。
未測量的元件門極可與發(fā)射極進行短接(CS-707)
特性曲線的文件保存
將測量的特性保存為CSV文件，并將圖表作為圖像數(shù)據(jù)保存為文件
※圖像格式：PNG/BMP/JPG/TIFF
光標功能
X軸、Y軸上顯示光標。以插值方式在測量數(shù)據(jù)之間顯示數(shù)值。
圖表區(qū)域的自定義
可自定義圖表的標題、軸標簽、背景色、軸范圍等。
設置的保存/讀取
可將特性測量的設置內(nèi)容、圖表區(qū)域的自定義設置內(nèi)容保存為文件和從文件中調用。
半導體的溫度特性評估
CS-810還可同時控制加熱板。
對于費時的各溫度參數(shù)可執(zhí)行全自動測量。
應力試驗
將各種參數(shù)編入應力試驗
可實施長時間的可靠性試驗。
電流/電壓始終由曲線圖示儀側自動監(jiān)控，同時記錄電流和電壓的變化。
可在應力試驗的中途或前后自動測量各種參數(shù)。
電流或電壓均設置下限值、上限值，一旦超出限制即會停止印加。
保持一定的電壓或電流（10秒～1,000小時)
測量Ic及Vce（間隔：10秒～2小時）
分立設備的試驗
連接并一鍵單擊即可測量多臺設備
可依次測量相同單元。 掃描系統(tǒng)CS-700系列共有10CH。 全自動測量費時的溫度特性等10個元件。 控制軟件CS-810的設置也是只需復制1個元件即可完成。
※CS-700系列最多可并聯(lián)運行10個系統(tǒng)
支持晶圓測量
通過與探頭臺系統(tǒng)的連接來測量晶圓上的設備
探頭臺連接線 CS-306/308
使探頭臺與曲線圖示儀相互連接的電纜(聯(lián)動專用端子裝備)
