HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制是一種用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設(shè)備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤(rùn)飽和控制等三箱控制模式，滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求 。
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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱定制是一種用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性的設(shè)備。它適用于對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。以下是HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱的一些關(guān)鍵產(chǎn)品特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域：
精確的溫濕度控制：采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤(rùn)飽和控制等三箱控制模式，滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求，如IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等。
防止結(jié)露設(shè)計(jì)：內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì)，防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
多重保護(hù)功能：具備三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Ｗo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等。
濕度自由選擇：可以選擇飽和（100%R.H濕度）與非飽和（75%R.H濕度）的設(shè)定，提供更大的靈活性。
智能化控制系統(tǒng)：配備7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。
易于清潔和操作：采用V型冷凝器，散熱面積大，冷卻效率高。冷軋板烤漆，易于保養(yǎng)，耐腐蝕，耐高低溫。
多端口數(shù)據(jù)支持：具有USB接口，可直接復(fù)制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù)，也可通過RS-232或RS-485接口控制機(jī)器并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤上。
滿足多種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：能夠滿足GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等多種國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
廣泛應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)。
安全設(shè)計(jì)：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國(guó)家安全容器規(guī)范。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)遵循：主要依據(jù)AEC-Q101標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)定義了汽車電子器件必須通過的測(cè)試項(xiàng)目和條件。
高溫高濕應(yīng)力測(cè)試（HAST）：在高溫（如130℃）、高濕（85%RH）、高壓（230KPa）的條件下進(jìn)行96小時(shí)測(cè)試，以加速水分對(duì)封裝材料的滲透，評(píng)估器件的耐久性。
無(wú)偏置高加速溫度和濕度測(cè)試（UHAST）：與HAST類似，但不施加電壓偏置，用于揭示電壓偏置條件下不易發(fā)現(xiàn)的失效模式。
通電要求：根據(jù)器件的特性，可能需要在測(cè)試過程中施加持續(xù)或循環(huán)的電壓偏置。
升降溫控制：在升降溫過程中，要確保設(shè)備溫度始終在露點(diǎn)溫度之上，避免器件表面凝結(jié)。
功能檢查：在測(cè)試前后，需要對(duì)器件的外觀和電氣參數(shù)進(jìn)行檢查，確保器件在環(huán)境下的性能沒有退化。
實(shí)驗(yàn)設(shè)備：使用能夠保持規(guī)定溫度、濕度和壓力的試驗(yàn)箱，并能夠提供電氣連接和記錄試驗(yàn)周期的相關(guān)曲線。
安全措施：試驗(yàn)箱應(yīng)具備多重保護(hù)裝置，如高溫保護(hù)、濕度斷水保護(hù)等，以確保測(cè)試過程的安全。
國(guó)產(chǎn)HAST試驗(yàn)箱
