重慶四川供應(yīng)TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀
重慶四川供應(yīng)TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產(chǎn)品詳情:
使用** 代1-nm顆粒尺寸將您的測(cè)量值調(diào)整到檢測(cè)極限 。30多年來(lái),TSI的SMPS™光譜儀已被廣泛用作測(cè)量亞微米和低納米尺寸范圍內(nèi)氣溶膠尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)添加 Model 3757 Nano Enhancer 和 Model 3086差分遷移率分析儀 (1nm-DMA),現(xiàn)在可以高分辨率和高速度測(cè)量大小和數(shù)量濃度,并監(jiān)測(cè)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)和工程和天然氣溶膠顆粒的新粒子形成小至1納米。
1 nm SMPS系統(tǒng)結(jié)合了TSI在顆粒分類和計(jì)數(shù)方面的歷史優(yōu)勢(shì),采用新技術(shù),可測(cè)量小至1 nm的顆粒。優(yōu)化的Model 3086 DMA進(jìn)一步降低了那些*小顆粒的擴(kuò)散損失。在DMA和標(biāo)準(zhǔn)CPC之間,Model 3757 NanoEnhancer使用二甘醇預(yù)生長(zhǎng)1 nm顆粒,以便CPC檢測(cè)。新的Nano Enhancer設(shè)計(jì)加強(qiáng)了CPC和Nano Enhancer之間的集成,使設(shè)置和系統(tǒng)使用變得更加容易。
結(jié)合這些組件,研究人員可以將粒子研究轉(zhuǎn)移到激動(dòng)人心的新領(lǐng) 主要應(yīng)用是:
大氣研究 - 監(jiān)測(cè)新的粒子形成和動(dòng)力學(xué),云凝結(jié),并縮小質(zhì)譜儀與傳統(tǒng)粒度分布測(cè)量之間的差距。非常適合研究高污染城市中亞3nm粒子,粒子源和健康影響研究。
材料科學(xué) - 通過(guò)可靠的近實(shí)時(shí)反饋監(jiān)測(cè)和表征亞3 nm粒子。該系統(tǒng)非常適用于基于氣溶膠的工程納米粒子合成,納米粒子功能化,納米級(jí)分析化學(xué),反應(yīng)動(dòng)力學(xué)控制和催化劑合成。
重慶四川供應(yīng)TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產(chǎn)品性能優(yōu)勢(shì):
- 關(guān)于尺寸和數(shù)量濃度的快速,高分辨率數(shù)據(jù)
- 針對(duì)*小擴(kuò)散損失進(jìn)行了優(yōu)化
- > 1至50 nm之間的109個(gè)通道
- 通過(guò)添加3081A長(zhǎng)DMA,能夠測(cè)量超過(guò)三十年的尺寸,從1 nm到1μm
- 模塊化組件設(shè)計(jì),用于定制,以*好地滿足測(cè)量需求,例如單獨(dú)使用1nm CPC
- 內(nèi)置診斷和系統(tǒng)組件自動(dòng)檢測(cè)功能,可提供可靠且信譽(yù)良好的測(cè)量數(shù)據(jù)
- 易于設(shè)置和使用Aerosol Instrument Manager(AIM)軟件
- 謹(jǐn)慎的顆粒測(cè)量:適用于多模式樣品
1nm SMPS不僅僅是另一種能夠觀察到1nm的成核爆發(fā)的探測(cè)器; 它是一個(gè)完整的粒子光譜儀,可以顯示這些事件中存在的大小分布,具有****的分辨率。
組件的模塊化使您可以輕松定制系統(tǒng),以*好地滿足您的測(cè)量需求:節(jié)省您的時(shí)間和**。如果您已擁有配置有3750 CPC的3938系列SMPS系統(tǒng)之一,則只需添加1nm-DMA和Nano Enhancer。您的分類器和上等中和器將保持不變,您將獲得*新版AIM軟件的 免費(fèi)更新。
重慶四川供應(yīng)TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀產(chǎn)品應(yīng)用:
- 基礎(chǔ)氣溶膠研究
- 研究粒子成核和粒子生長(zhǎng),來(lái)自粒子源,如火焰合成,激光燒蝕,火花產(chǎn)生和成核/冷凝
- 燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣研究,(有機(jī)燃料,亞3nm排放,天然氣發(fā)動(dòng)機(jī),塑料成型和焊接)
- 過(guò)濾研究
- 吸入或暴露室研究
- 健康影響研究
*特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)承擔(dān)SMPS譜儀包括: 3082分類,為1nm-DMA,型號(hào)3757納米增強(qiáng) , 以及3750型冷凝粒子計(jì)數(shù)器。
重慶四川供應(yīng)TSI 3938E57納米掃描遷移率粒度分析儀