可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)
ThermoTST ATC840是一臺(tái)精密的接觸式高低溫沖擊機(jī),具有更廣泛的溫度范圍-45℃到+200℃,提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試能力。
可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)
ThermoTST ATC840通過測(cè)試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。
可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī) 特點(diǎn)
有效溫度范圍,-45℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作,人機(jī)交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計(jì),低噪音、低震動(dòng)、低環(huán)境散熱
溫度波動(dòng)小
低溫環(huán)境測(cè)試無冷凝
可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī) 應(yīng)用
適用于IC特性、測(cè)試和失效分析:
ATE, SLT和工作臺(tái)
高低溫測(cè)試箱/低溫冷卻機(jī)代換
OEM集成