一、產品簡介
此系列試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及對各種材料進行高溫、低溫、交變濕熱或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能。適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件在高溫或濕熱環(huán)境下檢驗其各性能項指標。
二、產品參數
型號 | THS225 |
容積 | 225L |
內箱尺寸（mm） | 500*600*750 |
溫度范圍 | -40℃~﹢150℃ 可定制為：-20℃~﹢150℃、-60℃~﹢150℃、-70℃~﹢150℃ |
濕度范圍 | 30%~98%RH |
溫濕度分布均度 | ±2℃，±3%RH |
溫度偏差 溫度變化速率 | ±2.0℃ 升溫速率(1℃-3℃)/min（空載） 降溫速率（1℃-1.2℃）/min（空載，RT≤＋25℃） |
相對濕度范圍 | 20～98%RH (＋20℃～＋85℃) 無有源熱負載
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相對濕度偏差 | ±3% R.H （≤75%R.H時濕度偏差：±5% R.H) |
時間設定范圍 | 1~9999H |
溫濕度控制器 | 7.0寸LCD中英文觸摸屏，120組1200段編程，999次循環(huán)設定，并附多組PID控制功能 |
保護功能 | 漏電保護，超濕保護，負載短路保護 |
外形尺寸（mm） | 1000*1300*1750 |
電源 | 220V |
