MarSurf M400 的移動設(shè)備
測量室以及生產(chǎn)領(lǐng)域都越來越需要無導塊掃描的表面評估。
這通常需要更熟練的操作員,更多時間和更多調(diào)整工作。
MarSurf M 400 在“移動表面度量”范圍內(nèi)提供了必要的功能,而且快速、簡單易用。
- 移動和固定測量儀器
- 粗糙度和波紋度測量
- 掃描長度高達 26 mm
- 超過 50 R,W 和 P 表面參數(shù)
- 根據(jù)標準自動選擇截止和掃描長度
- 動態(tài)校準功能
- 驅(qū)動裝置和評估儀器之間可選有線和藍牙連接 (4 m)
- 磁性測頭支架(獨立測頭)BFW 250
- 機動測頭歸零設(shè)置(zui大 7.5 mm)
測量原則 | 探針法 |
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輸入 | BFW 無導塊系統(tǒng) |
測量范圍 mm | +/- 250 µm(高達 +/- 750 µm,3x 測桿長度) |
輪廓分辨率 | 測量范圍 +/- 250 µm:8 nm |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 11562 標準高斯濾波 |
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接觸速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
測量力 (N) | 0.75 mN |
重量驅(qū)動單元 | 約 0.9 kg |
重量測量儀 | 約 1.0 kg |
表面參數(shù) | 超過 50 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數(shù)可用于 R-、P- 和 W |