TIR 100-2紅外熱發(fā)射率測定儀，TIR100-2熱輻射率儀是一款緊湊的手持式設(shè)備，可精確，無損地測量幾乎所有表面的熱輻射率。
測量元件，操作控制，控制設(shè)備和評估電子設(shè)備也都節(jié)省了空間，并放置在手持式設(shè)備中。儀器操作僅需電源。該設(shè)備的操作通過發(fā)光的觸摸屏顯示器實(shí)現(xiàn)。

TIR100-2紅外熱發(fā)射率測定儀，TIR100-2熱輻射率儀功能：

用100°C半球形黑體輻射器漫射物體表面。在屬于儀器的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)值的幫助下，測量反射的紅外輻射并將其轉(zhuǎn)換為發(fā)射率的jue dui 值。結(jié)果立即顯示在設(shè)備的觸摸屏上。

詳細(xì)的說明手冊介紹了測量過程的物理基礎(chǔ)以及進(jìn)行精確測量的方法。

TIR100-2紅外熱發(fā)射率測定儀，TIR100-2熱輻射率儀應(yīng)用領(lǐng)域

TIR100-2可用于涂覆過程后的質(zhì)量控制，或用于實(shí)驗(yàn)室的研究和開發(fā)。

玻璃的測量結(jié)果相當(dāng)?shù)扔?br style="box-sizing: border-box;"/>
符合EN 12898的結(jié)果。

涂層箔作為建筑箔的發(fā)射率是

在prEN 15976之后測量。

TIR100-2熱輻射率儀的一些典型的應(yīng)用：

鍍膜玻璃的鑒定:1.鍍膜玻璃的質(zhì)量控制
  熱保護(hù)絕緣玻璃的的低U-值取決于玻璃鍍膜的低發(fā)射率，TIR 100對鍍膜的質(zhì)量控制以及實(shí)驗(yàn)室中開發(fā)新鍍膜非常有用。

涂有涂層的太陽能集熱板的鑒定:太陽能收集器生產(chǎn)的質(zhì)量控制
優(yōu)質(zhì)的太陽能收集器的效率取決于收集器表面非產(chǎn)低的發(fā)射率，因此TIR 100也是此行業(yè)質(zhì)量控制的理想設(shè)備

涂層箔的鑒定

 衛(wèi)星熱鍍層鑒定
 

TIR100-2熱輻射率儀技術(shù)數(shù)據(jù)

測量范圍溫度。發(fā)射率<0,020…0,980

重復(fù)精度（精度）+-0.005（lowE）.. +-0,01（hiE）

光譜范圍2,5μm-40μm

zui 大輻射能8μm

黑體溫度100°C

測量時(shí)間5秒

測量點(diǎn)約 5毫米

zui 大額定功率 130 V在...上230 V?/ 115 V?

RS232接口（可選的打印機(jī)輸出）

尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米

重量2.0公斤

參考（校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)）帶肋的鋁塊，具有熱穩(wěn)定性

低輻射率：高精度研磨鋁

高發(fā)射率：黑光陷阱

低發(fā)射面的參考發(fā)射率典型值?0,012

模具高發(fā)射面的典型值> 0.96

出廠時(shí)，所有參考文獻(xiàn)均已單獨(dú)調(diào)整至國家物理實(shí)驗(yàn)室（GB）的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

TIR100-2熱輻射率儀的測量原理

樣品在100°C的溫度下經(jīng)受熱輻射。黑體半球形輻射器用于封裝樣品，以確保均勻照明。以一定角度觀察反射的紅外輻射，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)值。然后根據(jù)高和低發(fā)射率參考標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)表繪制該值。
使用TIR時(shí)，只需按一下按鈕即可完成所有這些操作。

TIR100-2熱輻射率儀測量方法：

TIR100-2熱輻射率儀標(biāo)配包括：

TIR100-2型號，您可以選擇電源電壓（115V或230V）。
二合一校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：拋光鋁的低發(fā)射率值側(cè)和黑體阱的高發(fā)射率側(cè)。
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)證書，可追溯至柏林（GER）的Physikalisch-Technische Bundesanstalt（PTB）的參考標(biāo)準(zhǔn)，參考。編號73213 PTB 16和73214 PTB16。有效期為兩年。
可上鎖的便攜式硬質(zhì)鋁制外殼，可輕松存儲(chǔ)和運(yùn)輸TIR100-2和標(biāo)準(zhǔn)件。
英文印刷版手冊。

TIR100-2熱輻射率儀可選配：鋁箔支架

箔片固定器是一種實(shí)用的設(shè)備，可將薄涂層的箔片樣品（和其他紡織品）平整且均勻地夾持在固定器板的整個(gè)表面上，如圖所示。
兩側(cè)各使用兩個(gè)磁夾將樣品鎖定在適當(dāng)?shù)奈恢谩?br style="box-sizing: border-box;"/>
使用箔架的另一個(gè)好處是可以幫助樣品在測量過程中保持室溫更長的時(shí)間。當(dāng)使用薄材料（如薄涂層的箔）時(shí)，這將有助于減少波動(dòng)，從而提高發(fā)射率結(jié)果的準(zhǔn)確性。