NanoXSpot微焦點(diǎn)測(cè)試儀,NanoXSpot焦點(diǎn)測(cè)試儀用于對(duì)光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進(jìn)行質(zhì)量保證,根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評(píng)估焦點(diǎn)尺寸 <100 µm 和光斑形狀
歐洲計(jì)量創(chuàng)新與研究計(jì)劃項(xiàng)目開(kāi)發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測(cè)量?jī)x,具有線組、西門(mén)子星形和孔圖,用于測(cè)量小至 100 納米的聚焦光斑計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周?chē)煌嵌扰臄z的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集,這項(xiàng)技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學(xué)中的患者診斷。此外,它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無(wú)損檢測(cè)、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評(píng)估以及產(chǎn)品尺寸的驗(yàn)證。這些行業(yè)對(duì)檢測(cè)分辨力的要求小至納米級(jí)。
X 射線管的質(zhì)量保證 – 光斑尺寸和形狀
一段時(shí)間后,可能會(huì)觀察到 X 射線管(尤其是納米和微焦管)目標(biāo)的燒毀使用量,這可能導(dǎo)致光斑尺寸增加。一些管制造商允許管目標(biāo)旋轉(zhuǎn)。這允許改變目標(biāo)上的焦點(diǎn)位置并提供不失真的焦點(diǎn)尺寸
NanoXSpot 測(cè)量?jī)x (NxS)
? 全新測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì) NxS-1020 最終確定:
• 使用新開(kāi)發(fā)的算法進(jìn)行焦點(diǎn)測(cè)量和特性分析
• 全新焦點(diǎn) CT 重建算法
? 樣品支架設(shè)計(jì)便于測(cè)量?jī)x使用
? NxS 測(cè)量?jī)x上的圖案組(4 個(gè)象限):
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 3-12 µm(Q1)
• 會(huì)聚線組圖案(Q2 和 Q3)(類(lèi)似于西門(mén)子星)
• 直徑為 5 µm 至 1 mm 的孔圖案(Q4)
重新設(shè)計(jì)的 NxS-1022b 儀表
? 樣品架設(shè)計(jì)便于使用儀表
? NxS 儀表上的圖案組(4 個(gè)象限):
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 4-20 µm(Q1)
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 63 µm(Q2)
• 直徑為 5 µm 至 1000 µm 的孔圖案(Q3)
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu),特征尺寸為 25-50 µm(Q4)
NanoXSpot微焦點(diǎn)測(cè)試儀,NanoXSpot焦點(diǎn)測(cè)試儀規(guī)格: