BR2982B系列晶閘管觸發(fā)維持特性測試儀

BR2982B型晶閘管觸發(fā)特性測試儀說明書

微機(jī)控制，LCD顯示；

單向晶閘管一次測試三個(gè)參數(shù)；

雙向晶閘管的兩個(gè)方向測試一次完成；

操作方便，只按動一個(gè)按鈕測試；

帶超標(biāo)準(zhǔn)聲響報(bào)警；

BR2982B型晶閘管觸發(fā)特性/維持電流測試儀,是根據(jù)GB4024-83《半導(dǎo)體器件反向阻斷三極晶閘管的測試方法》標(biāo)準(zhǔn)要求的測試方法設(shè)計(jì)的,它采用脈沖法測試晶閘管,可排除被測管發(fā)熱的影響,保證符合標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,從而保證了測試的準(zhǔn)確度。

隨著近年來半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,器件的產(chǎn)量迅猛發(fā)展，使用傳統(tǒng)測試儀由于測試功能的限制而無法適應(yīng)其發(fā)展。針對上述情況,本機(jī)設(shè)計(jì)的目的是快速的完成測試任務(wù)。

本機(jī)具有過電壓和過電流的保護(hù)功能,各檔級的IH、IGT即為*大電流值,因而對被測管有保護(hù)作用。

一：技術(shù)條件;

1. IGT:

1.1 波形為階梯波.

1.2 幅度0.5mA-40-400mA,自動掃描,準(zhǔn)確度≤±2.5％±2字。

1.3 LCD顯示。

2. IH:

2.1 量程3－100-1000mA，自動掃描,準(zhǔn)確度≤±2.5％±１mA。

2.3 LCD顯示。

3 VGT:

3.1 量程0-4000mV, 準(zhǔn)確度≤±2.5％±100mV。

4． 測試速度：按一次測試一次。

5. 使用條件:

電 源:220V±5％，頻率50-60HZ。

環(huán)境溫度:0-40℃。

相對濕度:≤80％RH。

工作方式:連續(xù)。

6. 其它：

外形尺寸:250*260*100mm。

重 量:2.5Kg。

耗 電:≤20VA。

7. 配套性:

主 機(jī) 一臺 測試夾 三支

電源線 一條 保險(xiǎn)絲(0.5A) 二支

說明書 一本

二：使用方法:

1：開機(jī)后，LCD屏顯示：

Test breed 測試類別

1,one waythyratron 單向SCR

2-4,both waythyratron 雙向SCR(2-4即加測Ⅱ、Ⅲ或Ⅳ象限)

Pack 1 to 4 請選1到4

選擇后，LCD屏顯示：

alerting 報(bào)警設(shè)置

No-0, Yes-1 0,不報(bào)警。1,報(bào)警

選擇不報(bào)警時(shí)直接進(jìn)入測試功能。選擇報(bào)警時(shí)，LCD屏顯示：

set alerting IH(mA)< ? 設(shè)置IH值

bound 1-1000mA 范圍1-1000mA

這時(shí)候輸入IH的*大值，單位mA。當(dāng)超出*大值時(shí)報(bào)警器發(fā)聲報(bào)警。超出*大設(shè)置范圍將**設(shè)置并要求重新設(shè)置。設(shè)置完按“確定”后LCD屏顯示：

set alerting IGT(mA)< ? 設(shè)置IGT值

bound 1-400mA 范圍1-400mA

這時(shí)候輸入IGT的*大值，單位mA。當(dāng)超出*大值時(shí)報(bào)警器發(fā)聲報(bào)警。超出*大設(shè)置范圍將**設(shè)置并要求重新設(shè)置。設(shè)置完按“確定”后LCD屏顯示：

set alerting VGT(mA)< ? 設(shè)置VGT值

bound 500-4000mA 范圍500-4000mA

這時(shí)候輸入IGT的*大值，單位mA。當(dāng)超出*大值時(shí)報(bào)警器發(fā)聲報(bào)警。超出*大設(shè)置范圍將**設(shè)置并要求重新設(shè)置。設(shè)置完按“確定”后進(jìn)入測試：

選擇后顯示：

Plan test… 準(zhǔn)備測試

spack! 按觸發(fā)！

測試時(shí)，每次按A,G,K夾好被測管后需按一下“測試”鍵，即測試一次并顯示IGT，VGT和IH共3個(gè)參數(shù)或測雙向管時(shí)同時(shí)顯示Ⅰ和(Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ)象限之一，兩組共6個(gè)參數(shù)。

測試并顯示參數(shù)后，按“重設(shè)”鍵可恢復(fù)到開機(jī)的初始畫面且重新選擇功能已完成相應(yīng)的任務(wù)。

設(shè)測雙向SCR時(shí)接上單向SCR會死機(jī)，應(yīng)按“復(fù)位”鈕重新設(shè)置才能使用。

本機(jī)*后顯示為：

TEST RECORD 測試結(jié)果

IGT（mA） xxx xxx 前一組為Ⅰ象限數(shù)據(jù)

VGT （V） xxx xxx 后一組為Ⅱ、Ⅲ或Ⅳ象限數(shù)據(jù)

IH (mA) xxx xxx (后一組數(shù)據(jù)在**頁設(shè)置時(shí)選擇)

（注:Ⅰ象限指A1加正電、G加正電。Ⅱ象限指A1加負(fù)電、G加正電。Ⅲ象限指A1加負(fù)電、G加負(fù)電。Ⅳ象限指A1加正電、G加負(fù)電。）

按動測試鈕前，請確認(rèn)已接觸良好。否則測試會出錯(cuò)或程序走亂導(dǎo)致無法測試，這時(shí)應(yīng)按動“重設(shè)”鍵，重新設(shè)定才能使用。

三：工作原理：

測試時(shí)，CPU經(jīng)IC1（DA）設(shè)置了較大的IH值，且經(jīng)IC3，IC4線性隔離送到TR1輸出至被測管的A-K間。CPU另經(jīng)IC2（DA）設(shè)置了從*小逐漸增大的IGT，且不斷測試VGT值，當(dāng)測試到被測管的A-K已導(dǎo)通，IGT和VGT的測試即告完成。

其后CPU經(jīng)IC2（DA）使IGT=0后，CPU又經(jīng)IC1（DA）將IH值逐漸減少，直到被測管的A-K斷開時(shí)記下IH值。

當(dāng)IGT到*大時(shí)還不見被測管的A-K導(dǎo)通，CPU自動閉合J3，使IGT跳高量程，這時(shí)IGT可在35mA-400mA內(nèi)操作。

被測管的A-K導(dǎo)通后將IGT置0,這時(shí)發(fā)現(xiàn)被測管的A-K自動斷開，說明IH的初始設(shè)置太小，CPU會將J1吸合使IH換上等而保證測試。

VGT的測試轉(zhuǎn)換由IC8完成。

LCD在CPU的控制下承擔(dān)顯示工作。CPU的P1口接受鍵盤的輸入。

CPU的12腳接“測試”按鈕，按動按鈕的下拉可使測試開始。

CPU的27腳接報(bào)警電路，被測管參數(shù)不合格時(shí)該腳輸出高電平。

CPU的12和27腳的電平均為1個(gè)TTL的能力，用戶需擴(kuò)充機(jī)械化自動測試時(shí)可充分利用其功能，但要注意，12腳下拉應(yīng)是不超過300ms寬度的脈沖而不是直流電平，脈沖的下降沿有效。

測試時(shí)遇被測管某腳開路，本機(jī)將停止測試或顯示出錯(cuò)，且有的顯示不再更新。這時(shí)應(yīng)按動“重設(shè)”鍵，重新設(shè)定才能使用。

四：檢驗(yàn)方法:

檢驗(yàn)時(shí),應(yīng)備有記憶示波器，1W，10W標(biāo)準(zhǔn)電阻(均為±0.5%，1W)各一支。

檢驗(yàn)觸發(fā)電流時(shí)，在測試條件下在被測管G端子串連好標(biāo)準(zhǔn)電阻，(在被測管IGT=40-400mA，1-40mA檔分別用1W,10W標(biāo)準(zhǔn)電阻)，將G,K連接至示波器Y軸測試并讀VGT值，(K端子接示波器地)。將電阻兩端電壓連接至示波器Y軸測試并讀IGT值。誤差由電阻兩端電壓除電阻值計(jì)算得IGT值和被測管G端不串電阻時(shí)本機(jī)測得的值對比得出。

五：維修與校正；

電位器W1，用于校正IH優(yōu)異(低檔80mA左右，上等800mA左右)

電位器W2，用于IC5調(diào)零，一般調(diào)到1/2位置即可。

電位器W3，用于基準(zhǔn)電壓調(diào)準(zhǔn)。IC8的14腳電壓在4.096V即可。

當(dāng)IGT優(yōu)異有誤差(低檔30mA左右，上等300mA左右)需校正時(shí)，可稍增減R9的值來校正。

注意；繼電器是本機(jī)的易損件，應(yīng)用同型號同電壓部件更換。

BR2982B裝箱單：