乾龍環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備TH系列,廣泛應(yīng)用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、高低溫交變?cè)囼?yàn)、低溫儲(chǔ)存,以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)。
乾龍高低溫濕熱試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)
★新一代外觀設(shè)計(jì),箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定,運(yùn)行更可靠,維護(hù)更方便,備有高檔萬(wàn)向滾輪,方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)
★超大觸摸屏搖表式操作,外觀更加簡(jiǎn)潔大方,操作更加容易
★真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計(jì),飛利浦高亮度照明,加熱無(wú)霧氣
★為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng),記錄量大:SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦連接打印,大倉(cāng)有紙無(wú)紙記錄等選配
★可靠性高:主要配件選配專業(yè)廠商,保證提高整機(jī)可靠性
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009 君 用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)(乾龍高低溫濕熱試驗(yàn)箱)
GJB150.4A-2009 君 用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
其他
★使用環(huán)境溫度:+5~+35℃
★安全:短路保護(hù)、超溫保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、漏電保護(hù)、相序缺相保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)
()附件標(biāo)準(zhǔn)配置
★標(biāo)準(zhǔn)樣品架:Aisi304材質(zhì)1
★照明燈:飛利浦1
★測(cè)試孔:Φ50mm、(Φ60mm、Φ100mm非標(biāo))
★高溫膠塞:1
★高檔萬(wàn)向腳輪:4
★通訊:SD卡/USB/CF/以太網(wǎng),按儀表選配()