鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度?？梢詿o損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。

鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機，并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數(shù)字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，并且自動轉換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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