X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。
鍍層測厚儀因為采用的是主機(jī)與探頭分離式的設(shè)計,所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭,大量程厚可以測到5mm,F(xiàn)3N3的探頭,厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時,大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨,不滿意都可以退。
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鍍層測厚儀有兩種開機(jī)使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發(fā)開機(jī),并且直接顯示出測量結(jié)果。這是因為采用了數(shù)字探頭,非常的靈敏,會自動識別出測量基材,并且自動轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開機(jī)。開機(jī)儀器會顯示探頭型號,兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。
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鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應(yīng)測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度??梢詿o損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應(yīng)用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。
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