X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)
實(shí)用特點(diǎn)一:0.5秒就可以無(wú)損測(cè)量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動(dòng)識(shí)別測(cè)量的基材。
實(shí)用特點(diǎn)二:市面上的鍍層測(cè)厚儀,在使用時(shí)都是需要校準(zhǔn)的,但林上的鍍層測(cè)厚儀LS223,無(wú)需校準(zhǔn),只需凋零,儀器調(diào)零完畢后即可開(kāi)始測(cè)量。
實(shí)用特點(diǎn)三:儀器只有一個(gè)按鍵,省去繁瑣操作,測(cè)量更加的簡(jiǎn)單。
實(shí)用特點(diǎn)四:測(cè)頭采用真正的紅寶石,非常的耐磨和耐腐蝕,可以保證鍍層測(cè)厚儀LS223長(zhǎng)久有效的使用。
實(shí)用特點(diǎn)五:探頭采用了的數(shù)字探頭,這種探頭不容易收到干擾,而且還提供優(yōu)良的測(cè)試精度,即使溫度變化也不受影響。
實(shí)用特點(diǎn)六:有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm,F(xiàn)3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用,特別適用于大厚度的涂層檢測(cè)。
鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī),并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭,非常的靈敏,會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材,并且自動(dòng)轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào),兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。
鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì),所以在購(gòu)買時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭,大量程厚可以測(cè)到5mm,F(xiàn)3N3的探頭,厚可以測(cè)到3mm。
在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí),大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿足您的測(cè)量需求??蛻粼谶x購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨,不滿意都可以退。
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