詳情介紹：
韓國Micro Pioneer熒光鍍層測厚儀,韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀(進(jìn)口)
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由深圳市巨杰儀器設(shè)備有限公司一家代理,此儀器分為3種型號(hào):XRF-2000H鍍層測厚儀,XRF-2000L鍍層測厚儀,XRF-2000PCB鍍層測厚儀. 此儀器又叫: X射線鍍層測厚儀,金屬鍍層測厚儀,X光測厚儀,電鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀, 鍍層膜厚儀,X射線熒光金屬鍍層測厚儀, X射線熒光分析儀, X射線熒光檢測儀等等
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測量，同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價(jià)錢，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開放式的樣品臺(tái)，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的優(yōu)選?？蓽y量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92 。
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
