一、光電子器件靜態(tài)冷熱沖擊試驗箱用途:
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。專門測試各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕的性能。本機可選擇中文或英文液晶顯示觸控式屏幕畫面,操作簡單,程序編輯容易,人性化設(shè)計??娠@示完整的系統(tǒng)操作狀況相關(guān)數(shù)據(jù)、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況,屏幕即刻自動報警,顯示故障原因及提供排除故障方法。
二、光電子器件靜態(tài)冷熱沖擊試驗箱概述:
為了仿真不同電子構(gòu)件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標(biāo)示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。
滿足標(biāo)準(zhǔn)介紹:
1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
5.GB/T 2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法
6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法
7.GJB150.3-1986高溫試驗
8.GJB150.4-1986低溫試驗
滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
技術(shù)特點介紹:
◆ 可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(3H)、兩箱沖擊(2H)、高溫儲存、低溫儲存功能
◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃(40℃)
◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行
◆ 除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成
◆ 通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能
◆ 感測器放置測試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實驗有效性
◆ 機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠(yuǎn)程報警功能
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