一、可程式高低溫試驗(yàn)箱廠(chǎng)家簡(jiǎn)介:
可程式高低溫試驗(yàn)機(jī)廣泛適用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車(chē)、半導(dǎo)體、光伏、通訊、塑料制品、醫(yī)療等試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品做高溫、耐寒、高低溫交變?cè)囼?yàn)例行試驗(yàn)。在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)存儲(chǔ)后對(duì)產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)
二、可程式高低溫試驗(yàn)箱廠(chǎng)家驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及第三方檢定
1.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：技術(shù)指標(biāo)按雙方簽訂之“技術(shù)協(xié)議書(shū)”規(guī)定的方法。
2.驗(yàn)收方法：在需方現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行正式驗(yàn)收。
3.出廠(chǎng)前需方如需請(qǐng)第三方（由國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量檢測(cè)中心檢定并出具有效期的檢驗(yàn)報(bào)告）參與驗(yàn)收，其費(fèi)用由需方承擔(dān)。若*次驗(yàn)收不合格，經(jīng)供方改進(jìn)后再一次進(jìn)行驗(yàn)收時(shí)所產(chǎn)生費(fèi)用由供方承擔(dān)。
4.客戶(hù)自行委托國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量檢測(cè)中心檢定。
三、高低溫試驗(yàn)機(jī)參數(shù):
型號(hào) | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
溫度范圍 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
溫度解析度/均勻度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
溫度控制精度/波動(dòng)度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升溫/降溫時(shí)間 | 約3℃/min 約1℃/min （其他條件可定制） | ||||||
電源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60H | ||||||
四、高低溫試驗(yàn)機(jī)設(shè)備執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)驗(yàn)滿(mǎn)足條件：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
