用于 GDDR7 特性和測(cè)試的 ATE 工作臺(tái)
Introspect technology M5512 GDDR7 內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)是一款開創(chuàng)性的解決方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成電路進(jìn)行特性化和功能測(cè)試。提供高速、雙 向 PAM3 訊號(hào)、低速 NRZ 信號(hào)和完整的協(xié)議訓(xùn)練能力，是幫助業(yè)界讓 DRAM產(chǎn)品 Time to Market 的工具。
用于DDR5 LPDDR5及GDDR7特性和測(cè)試的桌面型ATE測(cè)試解決方案
用于 GDDR7 特性和測(cè)試的 ATE 工作臺(tái)
Introspect technology M5512 GDDR7 內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)是一款開創(chuàng)性的解決方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成電路進(jìn)行特性化和功能測(cè)試。提供高速、雙 向 PAM3 訊號(hào)、低速 NRZ 信號(hào)和完整的協(xié)議訓(xùn)練能力，是幫助業(yè)界讓 DRAM產(chǎn)品 Time to Market 的工具。
Key Features :
? 完整的內(nèi)存測(cè)試：連接到單 一 GDDR 顆粒中的所有通 道，從而提供所有通道的測(cè) 試覆蓋范圍。
? 可編程供電電源：精確編程 對(duì) DRAM 的供電和斷電流程
? 的訊號(hào)完整性：的頂針組件可在 PAM3 模式 下以 40 Gbps 的速度運(yùn)行。
? 交流特性：PS 等級(jí)分辨率的 時(shí)序與 mV 分辨率 shmoo 功 能。
Key Beneffts :
? 上市時(shí)間：深度執(zhí)行內(nèi) 存讀取&寫入操作并測(cè)試出電 氣特性以及時(shí)序規(guī)范
? PAM3 訊號(hào)傳輸：利 用多年的 SerDes 技術(shù)專業(yè)知 識(shí)，完整的保護(hù) GDDR7 以及PAM3 的訊號(hào)規(guī)范的要求。
? 自動(dòng)化：軟件控制環(huán)境非常適 合編排任務(wù)、驗(yàn)證以及設(shè)備與 系統(tǒng)間的自動(dòng)化整合控制。
Access to every pin and every memory cell
The M5512 includes an integrated test board for easy DUT attachment.
