用于 GDDR7 特性和測試的 ATE 工作臺
Introspect technology M5512 GDDR7 內(nèi)存測試系統(tǒng)平臺是一款開創(chuàng)性的解決方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成電路進行特性化和功能測試。提供高速、雙 向 PAM3 訊號、低速 NRZ 信號和完整的協(xié)議訓練能力，是幫助業(yè)界讓 DRAM產(chǎn)品 Time to Market 的工具。
用于DDR5 LPDDR5及GDDR7特性和測試的桌面型ATE測試解決方案
用于 GDDR7 特性和測試的 ATE 工作臺
Introspect technology M5512 GDDR7 內(nèi)存測試系統(tǒng)平臺是一款開創(chuàng)性的解決方 案，可基于 JEDEC GDDR7 的集成電路進行特性化和功能測試。提供高速、雙 向 PAM3 訊號、低速 NRZ 信號和完整的協(xié)議訓練能力，是幫助業(yè)界讓 DRAM產(chǎn)品 Time to Market 的工具。
Key Features :
? 完整的內(nèi)存測試：連接到單 一 GDDR 顆粒中的所有通 道，從而提供所有通道的測 試覆蓋范圍。
? 可編程供電電源：精確編程 對 DRAM 的供電和斷電流程
? 的訊號完整性：的頂針組件可在 PAM3 模式 下以 40 Gbps 的速度運行。
? 交流特性：PS 等級分辨率的 時序與 mV 分辨率 shmoo 功 能。
Key Beneffts :
? 上市時間：深度執(zhí)行內(nèi) 存讀取&寫入操作并測試出電 氣特性以及時序規(guī)范
? PAM3 訊號傳輸：利 用多年的 SerDes 技術專業(yè)知 識，完整的保護 GDDR7 以及PAM3 的訊號規(guī)范的要求。
? 自動化：軟件控制環(huán)境非常適 合編排任務、驗證以及設備與 系統(tǒng)間的自動化整合控制。
Access to every pin and every memory cell
The M5512 includes an integrated test board for easy DUT attachment.
