| 品牌 | 聯(lián)往檢測(cè) | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,航天,汽車,電氣 |
高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合溫濕度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，可模擬高溫低溫、低溫高溫等不同環(huán)境的測(cè)試條件，搭配容易操作和學(xué)習(xí)的高準(zhǔn)確性編程系統(tǒng)，廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況 也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力
高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)
1、GB10592-2008 高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化）
2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1:2007） 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-1：2007） 試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法
4.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC60068-2-78:2001） 試驗(yàn) Cab：恒定試驗(yàn)方法
5.GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：（IEC68-2-14） 試驗(yàn) N：溫度變化
6.GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)方
7.GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)方
8.GB 24977-2010
9.GB/T 4893.7-2013
主要技術(shù)參數(shù)
主要技術(shù)參數(shù) | ||
產(chǎn)品型號(hào) | 工作室 W×D×H（mm） | 外型W×D×H(mm） |
LWGDW-50 | 350×320×450 | 820×850×1560 |
LWGDW-100 | 450×450×500 | 900×950×1610 |
LWGDW-150 | 500×500×600 | 950×1000×1710 |
LWGDW-225 | 520×630×750 | 1050×1050×1860 |
LWGDW-250 | 600×600×700 | 1100×1100×1900 |
LWGDW-400 | 600×800×850 | 1120×1300×1980 |
LWGDW-500 | 700×800×900 | 1250×1500×2010 |
LWGDW-800 | 800×1000×1000 | 1350×1500×2150 |
LWGDW-010 | 1000×1000×1000 | 1520×1500×2150 |
溫度范圍: 0～160℃ - 20～160℃ -40～160℃ -50～160℃ -60～160℃ -70～160℃ -80～160℃ 可按照要求選定 | ||
注高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以根據(jù)客戶要求，定制非標(biāo)尺寸，溫濕度顯示精度，均勻度等都滿足市場(chǎng)上標(biāo)準(zhǔn)范圍。
