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  • 四探針自動Mapping測試系統

MCP-S330 四探針自動Mapping測試系統

參考價
面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號MCP-S330
  • 品牌
  • 所在地惠州市
  • 更新時間2024-05-13
  • 廠商性質其他
  • 入駐年限1
  • 實名認證已認證
  • 產品數量12
  • 人氣值35
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四探針自動Mapping測試系統 產品詳情

規(guī)格參數

technical parameter
點擊圖片可以放大查看
有效測量范圍

X軸:300mm

Y軸:300mm

Z軸:50mm

樣品厚度 ≤40mm
探頭垂直操作高度 ≈50mm
定位分辨率 X軸、Y軸、Z軸:0.1mm
重復定位精度 X軸、Y軸:±0.08mm;z軸;Z軸:±0.1mm
探針映射

4-pin 系列:

Pin-to-pin 1.0mm,1.5mm,(間距 5mm)

樣品測量基座

白色 PVC 片材或玻璃板

X、Y 軸帶 50mm 間距刻度

樣品傳送 手動(不兼容自動載體機等)
接口 USB 端口
電源

85 至 264 VAC(50/60Hz)

能量消耗:64 VA

外形尺寸和重量

約543Wx492Dx410H(mm);

約22kg

 

更多說明

Product details
點擊圖片可以放大查看

用途

1.生產工程

2.質量控制

3.研究與試驗發(fā)展

 

應用范圍

1.金屬、金屬薄膜

2.導電涂層、導電薄膜

3.片材

 

MCP-S330 的特點

可與Loresta GX 連接,測量范圍為10~(-4)-10~7 Ω;

全自動化:測量、算術、數據處理、3D 圖形輸出;

樣品尺寸:達 300 平方奎米(可連續(xù)測量多張樣品);

測量位置設置:除三種類型的測量位置組外,還可以從外部源導入坐標數據:柵格輸入、線輸入、順序輸入;

比較器功能:在屏幕上標注在范圍外的測量結果的測定點;

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